| 186 |
|
Механизм образования и субструктура конденсированных пленок / Л. С. Палатник, М. Я. Фукс, В. М. Косевич. — М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1972. — 318, [2] с.: ил., граф. — Библиогр.: с. 306-316. — 1.95.
|
| 187 |
|
Pulsed laser deposition of thin films: applications-led growrh of functional materials / ed. by R. Eason. — Hoboken: Wiley-Interscience, 2007. — XXIII,682 p.: ill.; 26 cm. — Схема доступа: http://. — ISBN 978-0-471-44709-2: 4539.00. |
| 188 |
|
Thin-film silicon solar cells: сборник / ed.: A. Shah. — Lausanne; Boca Raton: EPFL Press: CRC/Taylor & Francis, 2010. — XIX,430 p.: ill.; 25 cm. — (Engineering sciences. Micro- and nanotechnology). — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-1-4200-6674-6. — ISBN 978-2-940222-36-0: 3192.00. |
| 189 |
|
Тонкие магнитные пленки, вычислительная техника и радиотехника : Труды II Краевой конференции, посвященной Дню радио (май, 1970, г.Красноярск) / Институт физики им. Л. В. Киренского СО АН СССР, Тонкие магнитные пленки, вычислительная техника и радиотехника (2 ; май 1970 г. ; Красноярск). — Красноярск;.
:. — Красноярск, 1971. — 183, [3] с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.56.
|
| 190 |
|
Моделирование и классификация наноструктур: монография / С. Л. Чернышев. — М.: URSS, 2010. — 210 с.: ил.; 22 см. — Указ. имен. и алф.: с. 182-189. — ISBN 978-5-397-01466-3: 310.90.
В настоящей книге моделирование и классификация наноструктур рассматриваются на основе построения динамической вероятностной модели взаимодействия измерительного прибора и измеряемого объекта. Показано, что характер этого взаимодействия определяется четырехзначной логикой, приводящей к бесконечномерной стохастической матрице — хранилищу информации о результатах квантовых измерений. Исследуется возможность квантового анализа структуры атомов и размеров нанообъектов, а также дедуктивного построения Периодической системы элементов с учетом принципов гармоничной самоорганизации на основе матриц квантовых измерений. Приведены примеры применения мультимедийного комплекса «Квартика», предназначенного для анализа атомных и наноструктур на основе четырехзначной логики измерений. Книга рассчитана на инженеров-исследователей, специализирующихся в области наноматериаловедения ; может быть интересна студентам и аспирантам.
|