| 1 |
|
Исследование неупругих электрон-атомных и электрон-молекулярных столкновений методами оптической спектроскопии и протяженных пересекающихся пучков: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.05 / Ю. М. Смирнов ; офиц. оппоненты: В. К. Иванов, А. Н. Ключарёв, А. В. Логинов; Московский энергетический институт (Технический университет) (М.), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (СПб.), ВНЦ "ГОИ им. С. И. Вавилова" (СПб.). — М., 1998. — 39 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 31-39.
|
| 2 |
|
Физика электронных и атомных столкновений : библиограф. указ. / Биб-ка Академии наук СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе ; сост. : Е. С. Соловьев, Н. Б. Шишко, И. Г. Ревенко ; отв. ред. Е. С. Соловьев. — Л.; : Наука. Ленинградское отделение , Б.г.
Вып. 2, ч. 1 : 1967-1973 гг. — , 1977. — 199 с.: ил. — 1.68 р.
|
| 3 |
|
Физика электронных и атомных столкновений : библиограф. указ. / Биб-ка Академии наук СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе ; сост. : Е. С. Соловьев, Н. Б. Шишко, И. Г. Ревенко ; отв. ред. Е. С. Соловьев. — Л.; : Наука. Ленинградское отделение , Б.г.
Вып. 2, ч. 2 : 1967-1973 гг. — , 1978. — 277 с.: ил. — Авт. указ.: с. 228-277. — 2.00 р.
|
| 4 |
|
Основы анализа поверхности и тонких пленок: монография / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70 р.
|
| 5 |
|
Оже-процессы при атомных столкновениях: монография / Э. С. Парилис [и др.] ; отв. ред. О. Б. Фирсов; АН УзССР, Институт электроники им. У. А. Арифова. — Ташкент: Фан, 1989. — 237 с.: ил. — Библиогр. с. 215-235. — ISBN 5-648-00732-9: 3.40 р. |