Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 5 из 3821 для dc.subject any/relevant "УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ ... ( 0.081 сек.)

1
Асланов, Леонид Александрович.
Основы теории дифракции рентгеновских лучей (Рассмотрение в объеме, необходимом для изучения электронного строения монокристаллов): учеб. пособие / Л. А. Асланов, Е. Н. Треушников ; рец. С. В. Борисов. — М.: МГУ, 1985. — 216 с.: граф. — Допущено Министерством высшего и среднего специального образования СССР в качестве учебного пособия для студентов химических специальностей вузов. — Библиогр.: с. 213-215. — 0.55 р.
Первое в советской и зарубежной учебной и монографической литературе систематическое изложение теории дифракции в объеме, необходимом для исследования электронного строения монокристаллов. В пособии изложены основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в применении к исследованию электронной плотности в монокристаллах, рассмотрено влияние на интенсивность дифрагированного кристаллом луча ангармонических тепловых колебаний, теплового диффузионого рассеяния, анизотропии электронной плотности атомов, изотропной и анизотропной экстинкции, поглощения рентгеновских лучей в исследуемом кристалле.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Цыбуля, Сергей Васильевич.
Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил., граф. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00 р.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Афанасьев, Александр Михайлович.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев: монография / А. М. Афанасьев, П. А. Александров, Р. М. Имамов. — М.: Наука, 1989. — 151 с.: ил. — Библиогр.: с. 146-151. — 2.10 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Birkholz, Mario.
Thin film analysis by X-Ray scattering: монография / M. Birkholz; with contributions by P. F. Fewster, C. Genzel. — Weinheim: Wiley-VCH, 2006. — XXII,356 p.: ill.; 25 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-3-527-31052-4: 3676.87 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Сборник задач по общему курсу физики : в 5-ти кн. учеб. пособие для физ. спец. вузов. — М.; : Наука , Б.г.
Кн. 5 : Атомная физика. Физика ядра и элементарных частиц / В. Л. Гинзбург [и др.] ; под ред. Д. В. Сивухина. — 4-е изд., перераб. и доп. — , 1981. — 224 с.: ил. — 1.04 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи