| 1 |
|
Очерки истории русской метрологии. XI-начало XX века: научно-популярная литература / Н. А. Шостьин. — 2-е изд. — М.: Издательство стандартов, 1990. — 280 с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 270-277. — ISBN 5-7050-0117-7: 2.90 р.
|
| 2 |
|
Из истории русской философии: сб. статей. — Л.: Государственное издательство политической литературы, 1949. — 828, [3] с. — 18.00 р. |
| 3 |
|
Аппроксимация нормальным распределением и асимптотические разложения: переводное издание / Р. Н. Бхаттачария, Р. Ранга Рао ; пер. с англ. В. В. Ульянова, Ш. К. Форманова под ред. В. В. Сазонова. — М.: Наука, 1982. — 286, [2] с. — Библиогр.: с. 279-280. — 2.00 р.
|
| 4 |
|
Идентификация и чувствительность сложных систем: монография / А. И. Рубан. — Томск: Издательство Томского университета, 1982. — 302, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 295-300. — 1.90 р.
|
| 5 |
|
Метрологическая аттестация методов исследования состава и свойств нефти и нефтепродуктов: сб. науч. тр. / Научно-исследовательский институт по переработке нефти (М.). — М.: ЦНИИТЭнефтехим, 1990. — 70, [2] с.: табл. — Библиогр. в конце ст. — договорная. |
| 6 |
|
Социально-экономические основы управления природопользованием в регионе: монография / И. И. Думова; Отв. ред. Г. М. Мкртчан; Байкальский институт рационального природопользования СО РАН. — Новосибирск: Наука. Сибирское отделение, 1996. — 161, [5] с.: ил. — Библиогр.: с. 154-160. — ISBN 5-02-031052-2: 0.00.
|
| 7 |
|
Основы метрологии: Современный курс / А. Э. Фридман. — СПб.: Профессионал, 2008. — 279, [5] с.: ил. — Библиогр.: с. 277-280. — ISBN 978-5-91259-018-4: 1261.00 р.
|
| 8 |
|
Ultra-fast material metrology: монография / A. Horn. — Weinheim: Wiley-VCH, 2009. - XVI. — 206 p.: ill. — Bibliogr. : p. 183-193. — Ind.: p. 199-206. — ISBN 978-3-527-40887-0: 1317.00 р.
|
| 9 |
|
Законодательная и прикладная метрология / Учредитель: Всерос. НИИ метрол. службы. — 1997-. — М.: РСК-Консалтинг, 1997-. — ISSN 0889-575Х. |
| 10 |
|
Нанометрология: монография / А. Г. Сергеев ; рец.: С. М. Аракелян, В. Е. Ютт. — Москва: Логос, 2011. — 413 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 409-413. — ISBN 978-5-98704-494-0: 768.00 р.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциями - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрлогического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
|