Серия по классической теоретической физике основана на серии курсов, прочитанных Вальтером Грейнером в Университете Иоганна Вольфганга Гете во Франкфурте-на-Майне, Германия. Книги серии, предназначенные для студентов старших курсов и начинающих аспирантов, содержат не только полный обзор классической теоретической физики, но и огромное количество проработанных примеров и задач, которые наглядно показывают студентам, как применять абстрактные принципы к реальным задачам.

Одним из самых захватывающих достижений современной физики стало открытие нового класса оксидных материалов с высокой температурой перехода в сверхпроводящее состояние. Системы с температурой, значительно превышающей температуру жидкого азота, уже стали реальностью, и ожидается, что они будут иметь более высокие значения. Действительно, идея создания сверхпроводника при комнатной температуре, которая еще недавно считалась научной фантастикой, представляется вполне возможным результатом исследований материалов. Чтобы удовлетворить потребность в подготовке студентов и ученых к исследованиям в этой области, осенью 1987 года Джеффри У. Линн и его коллеги из Мэрилендского университета в Колледж-Парке, а также другие специалисты по сверхпроводимости со всех уголков США провели курс для аспирантов, из которого были взяты главы этой книги.

В монографии обобщены результаты теоретических и экспериментальных исследований эволюции структурного состояния и композиционного состава основных конструкционных материалов ядерной энергетики под облучением. Рассмотрена связь этих процессов с радиационной стойкостью облучаемых материалов. Для научных работников, инженеров, специалистов в области радиационного материаловедения и физики радиационных повреждений, преподавателей и студентов соответствующих факультетов вузов.

Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем и их тестированием. В книге рассмотрены вопросы классификации технических микроскопов, подбора техники для решения задач микроскопических методов исследования образцов, а также вопросы стандартизации и методов контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Книга предназначена для специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, студентов технических вузов, разработчиков оптических систем, менеджеров и маркетологов.