Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 8263 для dc.subject any/relevant "электронная мик ... ( 0.163 сек.)

1
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии: материалы временных коллективов. — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Системные требования: Загл. с диска. — 150.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Ищенко, Анатолий Александрович.
Дифракция электронов : структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества: монография / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. — М.: Физматлит, 2013. — 614 с.: ил.; 25 см. — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 611-614. — ISBN 978-5-9221-1447-9: 990.00 р.
Представлены современные достижения в теории и эксперименте метода дифракции электронов в 4D пространственно-временном континууме. Даны основы классической газовой электронографии, в том числе высокотемпературной, на основе понятия поверхности потенциальной энергии. Введение развертки во времени в дифракционные методы с использованием пикосекундных и фемтосекундных электронных диагностирующих импульсов, синхронизированных с импульсами возбуждающего лазерного возбуждения, позволило разработать методы сверхбыстрой электронной кристаллографии, дифракции рентгеновских лучей с временным разрешением и динамической просвечивающей электронной микроскопии, томографии молекулярного состояния. Становится возможной визуализация переходных процессов при фотовозбуждении свободных молекул и биологических обьектов, анализ процессов на поверхности и в наноструктурах. Для широкого круга читателей, студентов, аспирантов, научных работников, интересующихся проблемами структуры и динамики наноматериалов, строением вещества.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Мурзин, Иван Германович.
Модификация поверхности металлов методом ионно-лучевого смешивания: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / И. Г. Мурзин ; науч. рук. Л. П. Чупятова, офиц. оппоненты: В. Н. Мордкович, Г. В. Гордеева; Московский институт стали и сплавов (М.), ЦНИИЧЕРМЕТ. — М., 1992. — 25 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24-25.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Квеглис, Людмила Иосифовна.
Диссипативные структуры в тонких нанокристаллических пленках: монография / Л. И. Квеглис, В. Б. Кашкин ; отв. ред. В. Ф. Шабанов; Сибирский федеральный университет (Красноярск). — Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2011. — 204 с.: ил., граф. — Библиогр.: с. 185-200. — ISBN 978-5-7638-2101-7: 270.00 р.
Обобщен опыт исследований физических эффектов в диссипативных структурах методами обработки изображений. в том числе с применением преобразования Фурье. Исследованы диссипативные структуры в аморфных и нанокристаллических пленках. Рассмотрено моделирование процессов взрывной кристаллизации и формирующихся атомных структур. Предназначена для специалистов в области материаловедения и физики конденсированного состояния. Может быть полезна аспирантам и студентам, интересующимся электронной микроскопией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Горелик, Семен Самуилович.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил., фото.цв.; 21 см. + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Пантелеев, В. Г.
Компьютерная микроскопия: монография / В. Г. Пантелеев, В. Г. Егорова, Е. Н. Клыкова. — М.: Техносфера, 2005. — 304 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 302-303. — ISBN 5-94836-025-3: 210.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Валиев, Руслан Зуфарович.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии: научное издание / Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман; АН СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. — М.: Наука, 1991. — 231 с.: ил. — Библиогр.: с. 221-225. — ISBN 5-02-000195-3: 2.70 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи