| 81 |
|
Адгезионная прочность тонкопленочных покрытий никелида титана из молибдена и тантала, нанесенных методом магнетронного напыления: научное издание / Г. В. Прозорова [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // М. Рассмотрены методы оценки адгезионной прочности, изучена морфология поверхности, проведен послойный элементный анализ в приповерхностном объеме никелида титана с покрытиями из Мо и Та различной толщины. Показано, что механическая и адгезионная прочность покрытий зависит от химического состава пленки и подложки, а также толщины покрытия.
|
| 82 |
|
Особенности структурных превращений в процессе формирования нанокристаллических и аморфных состояний в В2 фазе никелида титана при пластической деформации кручением под давлением: научное издание / Н. С. Сурикова, А. Н. Тюменцев, Г. Ф. Корзникова; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), Институт проблем сверхпластичности металлов РАН (Уфа) // М. Проведено электронно-микроскопическое исследование структурных превращений в [001] монокристаллах TiNi(Fe,Mo) при интенсивной пластической деформации кручением под давлением (ИПДК) в зависимости от степени деформации.
|
| 83 |
|
Сравнительное исследование эволюции микроструктуры наноструктурного и крупнокристаллического титана при термомеханической обработке / Ю. П. Шаркеев [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск) // М.
|
| 84 |
|
Особенности структурного состояния субмикрокристаллических и нанокомпозитных покрытий на основе TiNi, полученных комбинированными методами вакуумно-дугового синтеза / В. А. Нестеренков [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), Институт сильноточной электроники СО РАН (Томск) // М.
|
| 85 |
|
Применение метода рентгеновской дифракции для изучения тонких пленок и получения распределений структурно-чувствительных характеристик по глубине в поверхностных слоях материалов: научное издание / Ю. П. Миронов; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Ростов н/Д. Метод рентгеноструктурного анализа с использованием асимметричной схемы отражения развит до получения одномерных распределений структурно-чувствительных физических величин по глубине. Из получаемого в эксперименте набора усредненных величин по различным толщинам эффективно отражающего слоя, методика позволяет восстанавливать координатную зависимость этих величин. Методика может быть полезна при изучении физической и химической неоднородностей в поверхностном слое материала, создаваемых закалкой, различными видами поверхностного облучения, поверхностным легированием, наплавкой, нанесением пленок и т. д. В работе она применена для получения распределений по глубине нормальной и касательной микродеформаций, связанных с напряжениями 1-го рода, в подвергнутых электронному облучению образцах никелида титана с плоской поверхностью.
|