| 81 |
|
Оптические методы исследования нефтей и органического вещества пород: материалы секции оптических методов Всесоюзного семинара "Лабораторные методы исследования нефтей газов и органического вещества пород" / под ред. Т. А. Ботневой и А. А. Ильиной. — М.: ВНИГНИ, 1970. — 303, [1] с.: ил., табл. — (Труды Всесоюзного научно-исследовательского геологоразведочного нефтяного института (ВНИГНИ)). — Библиогр. в конце ст. — 0.93 р. |
| 82 |
|
Трение и смазка = Friction and Lubrication: переводное издание / Ф. П. Боуден, Д. Тейбор ; пер. с англ. Ю. Н. Востропятова, под ред. И. В. Крагельского; Лаборатория химии и физики поверхностей Кембриджского университета. — М.: Государственное научно-техническое издательство машиностроительной литературы, 1960. — 150, [2] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 143-149. — 0.53 р.
|
| 83 |
|
Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов: справочник / Л. А. Васильева, Л. М. Малашенко, Р. Л. Тофленец ; под ред. С. А. Астапчик, рец.: Э. И. Точицкий, П. А. Пархутик; Физико-технический институт АН БССР (Минск). — Минск: Наука и техника, 1989. — 208 с.: ил. — Библиогр.: с. 205-207. — ISBN 5-343-00089-4: 0.45 р.
Описаны основные методики электронно-микроскопических исследований. Даны практические рекомендации по приготовлению фольг для трансмиссионной электронной микроскопии, интерпретации электродифракции. Приведены электронные микрофотографии структур подповерхностных слоев при трении. Приведены эталонные микроэлектронограммы ГЦК, ОЦК и гексагональных решеток с различными осями зон. Представлены таблицы данных о кристаллических решетках и межплоскостных расстояния различных интерметаллидов, встречающихся в сплавах цветных металлов. Справочник предназначен для научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области физического металловедения, может быть использован аспирантами и студентами вузов.
|
| 84 |
|
Physical principles of electron microscopy: an introd. to TEM, SEM, a. AEM / R. F. Egerton. — New York: Springer, 2005. — XII,202 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 195-196. — ISBN 978-0-387-25800-3: 180.00 р.
|
| 85 |
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой, под ред. В. И. Петровой. — М.; : Мир , Б.г.
кн. 1 :. — , 1984. — 303, [1] с.: ил., табл. — 3.00 р.
|