Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 16 - 20 из 140 для dc.subject any/relevant "Наноматериалы" ( 0.079 сек.)

16
Shong, Chin Wee.
Science at the nanoscale: an introductory textbook / C. W. Shong, S. C. Haur, A. T. S. Wee. — Singapore: Pan Stanford publ, 2010. — XI,214 p.: ill.; 23 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-981-4241-03-8: 2420.11 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
17
Конструкционные нанокристаллические материалы: научные основы и приложения / К. Коч, И. Овидько, С. Сил, С. Вепрек; пер. с англ. под ред. М. Ю. Гуткина. — Москва: Физматлит, 2012. — 447 с.: ил.; 22 см. — Предм. указ.: с. 444-447. — ISBN 978-5-9221-1395-3: 495.00 р.
В предлагаемой читателю книге известных авторов: профессора Карал К. Коча (США), доктора физико-математических наук Ильи Овидько (Россия), профессора Судипты Сила (СШЩА) и профессора Стэна Вепрека (ФРГ) на теоретическом и прикладном уровнях излагаются фундаментальные основы нанотехнологических процессов и структурных состояний объемных наноматериалов, нанокомпозитов и покрытий. В книге рассматриваются области применения массивных наноматериалов в несущих конструкциях, анализируется стабильность нанокристаллических микроструктур и описываются методы, используемые для изучения их строения. Исследованы закономерности и особенности изменения механических и функциональных свойств наноматериалов и возможных областях применения. Представляются теоретические модели структур нанокристаллических материалов и обсуждаются механизмы их поведения при различных видах нагружения. Книга, содержащая новейшие сведения о свойствах наноматериалов, проблемах и х освоения и перспективах решения, несомненно, полезна студентам, аспирантам, ученым и инженерам, занимающихся разработкой и использованием наноматериалов в различных областях техники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
18
Головин, Юрий Иванович.
Основы нанотехнологий: монография / Ю. И. Головин. — М.: Машиностроение, 2012. — 653 с.: ил.; 22 см. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-5-94275-662-8: 920.00 р.
Изложены физико-химические основы нанотехнологии. Особенное внимание уделено размерным эффектам различной природы и путям их практического использования в различных наноструктурах и изделиях. Рассмотрены современные методы получения, исследования и определение свойств наноматериалов. Систематизированы и описаны основные направления развития нанотехнологии и нанотехники: физическое наноматериаловедение и наномеханика, нано-электроника и нанобиотехнологии. Наряду с общими положениями приведено большое число примеров конкретных разработок, доведенных до промышленного производства. Автор использовал как литературные, так и собственные данные. Книга содержит обширный ссылочный аппарат, включающий зарубежные и отечественные источники. Для инженерно-технических работников, осваивающих и использующих нанотехнологические процессы, а также может быть полезна студентам и аспирантам, специализирующимся в этой области.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
19
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение / Р. Андерхальт [и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина, под ред. Т. П. Каминской. — М.: Бином. Лаборатория знаний, 2012. — 582 с. ; [8] л. ил.: ил.; 24 см. — Авт. указаны на 5-й с. — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 574-582. — ISBN 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
20
Козлов, Эдуард Викторович.
Механизмы деформации и механические свойства наноматериалов [Текст] : научное издание / Э. В. Козлов, А. Н. Жданов; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Новосибирск.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи