| 1691 |
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой, под ред. В. И. Петровой. — М.; : Мир , Б.г.
кн. 1 :. — , 1984. — 303, [1] с.: ил., табл. — 3.00 р.
|
| 1692 |
|
Компьютерное моделирование жидких и аморфных веществ / Д. К. Белащенко; Московский государственный институт стали и сплавов (М.). — М.: МИСИС, 2005. — 407 с.: граф.; 25 см. — (Металлургия и материаловедение XXI века). — На тит. с.: К 75-летию Моск. гос. ин-та стали и сплавов (технол. ун-та). — Библиогр.: с. 383-407. — ISBN 5-87623-134-7: 346.11 р.
В книге рассмотрены основные структурные характеристики некристаллических (жидких и аморфных) веществ, методы компьютерного моделирования систем с различным характером химической связи, в том числе металлов. солей, оксидов и т. по. Дан обзор методов моделирования некристаллических систем с использованием дифракционных данных о структуре. Проведен анализ топологических характеристик некристаллических систем. Исследованы возможности восстановления межчастичных потенциалов по структуре жидкого или аморфного тела и расчета термодинамических. структурных, диффузионных и других свойств веществ методами компьютерного моделирования.
|
| 1693 |
|
Спектроскопия неметаллических кристаллов: сб. науч. тр. / Институт физики АН Укр.ССР (Киев). — Киев: Наукова Думка, 1990. — 183, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-12-001299-X: 2.40 р. |
| 1694 |
|
Электроны в жидком аммиаке: переводное издание / Дж. Томпсон ; пер. с англ. А. В. Царевского, под ред. А. М. Бродского. — М.: Мир, 1979. — 324, [3] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце глав. — 3.10 р.
|
| 1695 |
|
Математическое моделирование в проектах нового позитронного источника для KEKB и детектора SiDдля ILC: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.16, 01.04.20 / И. С. Тропин ; науч. рук. А. М. Кольчужкин, науч. конс. А. П. Потылицын, офиц. оппоненты : В. В. Рыжов, П. В. Логачев; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ". — Томск, 2010. — 24 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20-24.
|