Physics of Wave Phenomena. — Moscow: Allerton Press, Inc. ; International Academic Publishing Company "Nauka/Interperiodika". — ISSN 1541-308X.

Теория матрицы плотности и ее приложения: переводное издание / К. Блум ; пер. с англ. М. Ю. Новикова, Ю. Г. Рудого, под ред. Д. Н. Зубарева. — М.: Мир, 1983. — 247 с.: ил. — Библиогр.: с. 239-241. — Предм. указ.: с. 242-244. — 2.10 р.

Осаждение поликристаллических алмазных пленок в аномальном тлеющем разряде: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / С. А. Линник ; науч. рук. Г. Е. Ремнев, офиц. оппоненты Б. В. Спицын, Н. С. Сочугов; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов. — Томск, 2013. — 24 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24.

Диагностика состояния полимерных диэлектриков в электрическом поле методом диэлектрической спектроскопии: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.14.12 / С. Н. Ткаченко ; науч. рук. С. М. Лебедев, офиц. оппоненты: А. Г. Овсянников, Ю. М. Анненков; Томский политехнический университет (Томск), Научно-исследовательский институт высоких напряжений (Томск), НГТУ. — Томск, 2009. — 21 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 19-20.

Комбинированная методика корпускулярной диагностики и оптической эмиссионной спектроскопии для определения ионных потоков из низкотемпературной плазмы: автореферат дис. ...канд. физико-математических. наук : 01.04.08 / Д. В. Колодко ; науч. рук. А. В. Казиев, офиц. оппоненты : Е. М. Окс, А. С. Метель, В. Ю. Григорьев ; Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ". — Москва , 2022. — 22 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20-22.