| 1 |
|
Математическое и машинное моделирование в микроэлектронике. ММММ-84: сб. докл. респ. шк.-семинара. — Вильнюс: Институт физики полупроводников АН ЛитССР , 1985. — 62 с.: ил. — Библиогр. в конце докл. — 0.40 р. |
| 2 |
|
МОП-СБИС. Моделирование элементов и технологических процессов: сб. лекций / под ред. П. Антонетти [и др.], пер. с англ. В. Л. Кустова [и др.], под ред. Р. А. Суриса. — М.: Радио и связь, 1988. — 495 с.: ил. — Библиогр.: с. 488-491. — Библиогр. в конце лекций. — ISBN 5-256-00130-2: 4.10 р. |
| 3 |
|
Выявление причин отказов РЭА: монография / В. П. Бережной, Л. Г. Дубицкий ; под ред. Л. Г. Дубицкого. — М.: Радио и связь, 1983. — 231 с.: ил. — Библиогр.: с. 218-225. — Предм. указ.: с. 226-228. — 0.85 р.
|
| 4 |
|
Численное моделирование микроэлектронных структур: монография / С. Г. Мулярчик. — Минск: Университетское, 1989. — 368 с.: ил. — Библиогр.: с. 354-366. — ISBN 5-7855-0045-0: 3.30 р.
|
| 5 |
|
Электромагнитная совместимость радиоэлектронных средств: учеб. пособие для радиотехн. спец. вузов / В. И. Петровский, Ю. Е. Седельников. — М.: Радио и связь, 1986. — 216 с.: ил. — Библиогр.: с. 211-212. — 0.50 р.
|
| 6 |
|
Алгоритмы технического диагностирования дискретных устройств: монография / В. Г. Тоценко. — М.: Радио и связь, 1985. — 238 с.: ил. — Библиогр.: с. 228-235. — 0.65 р.
|
| 7 |
|
Лекции по электронике СВЧ : 4-я зимняя школа-семинар инженеров / Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. — Саратов; : Издательство Саратовского университета , Б.г.
Кн. I :. — , 1978. — 228 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.40 р.
|
| 8 |
|
Лекции по электронике СВЧ : 4-я зимняя школа-семинар инженеров / Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. — Саратов; : Издательство Саратовского университета , Б.г.
Кн. II :. — , 1978. — 182 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.27 р.
|
| 9 |
|
Радиационные методы в твердотельной электронике: монография / В. С. Вавилов [и др.]. — М.: Радио и связь, 1990. — 183 с.: ил. — Библиогр.: с. 174-182. — ISBN 5-256-00741-6: 2.60 р. |
| 10 |
|
Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: матер. II Всесоюз. науч.-техн. семинара (Рязань, 17-19 июня 1981 г.). — Рязань: Рязанский радиотехнический институт, 1982. — 159 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. |