В монографии анализируется влияние ионизирующих излучений (ИИ), преимущественно космического пространства, на характеристики изделий микро- и наноэлектроники. Рассмотрены: основы физики взаимодействий ИИ с полупроводниками; изменение электрофизических параметров приборных структур в результате образования наноразмерных дефектов под действием ИИ; дозовые ионизационные эффекты в структуре Si/Si02 и их влияние на характеристики приборов и микросхем; особенности радиационных испытаний изделий, изготовленных по МОП-, КМОП-, а также по биполярной технологии, на стойкость к воздействию низкоинтенсивного ИИ; одиночные события в изделиях микро- и наноэлектроники при воздействии отдельных заряженных частиц. Для технических специалистов, работающих в области электроники, а также для студентов и аспирантов.

Справочник охватывает широкий круг вопросов, относящихся к разработке, производству и практическому использованию оптических волокон. При описании различных типов специальных оптических волокон акцент делается на тех особенностях (специальных свойствах) того или иного типа волокна, которые позволяют получить дополнительные преимущества при использовании такого волокна в определенной области. В этом контексте рассматриваются такие свойства волокон, как поляризация, герметизация, легирование редкоземельными элементами и т.д. Кроме того, в справочнике можно найти информацию о новых типах волокон, известных лишь узкому кругу специалистов. Справочник будет полезен специалистам (ученым, инженерам, студентам), чья деятельность связана с разработкой, производством и практическим использованием оптических волокон в самом широком спектре приложений - от телекоммуникаций до биотехнологий.

Обобщены и систематизированы обширные данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях различных сталей и сплавов. В теоретической части изложены методы подготовки реплик и фольг для исследования микроструктуры, неметаллических включений, изломов и защитных покрытий на ПЭМ. Изложены особенности и возможности растровой электронной микроскопии (РЭМ). Даны методические указания по расчету электронограмм. Иллюстративный материал включает электронные микрофотографии структуры сталей и сплавов различного класса и назначения (более 50 марок), неметаллических включений, защитных покрытий и микрофрактограммы с изломов литого и деформированного метала после разрушения при различных температурах с расшифровкой фазового состава и указанием свойств. Для инженерно-технических работников металлургической, машиностроительной, судостроительной и других отраслей промышленности, занимающихся исследованиями качества металла.