Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 611 - 620 из 7638 для dc.subject any/relevant "физика твердого ... ( 0.223 сек.)

611
Авдеев, Михаил Александрович.
Влияние макроструктуры высокотемпературного сверхпроводника Y-Ba-Cu-O на проникновение вихрей Абрикосова: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / М. А. Авдеев ; науч. рук. В. Е. Милошенко, оппоненты: В. В. Постников, Г. Е. Шунин; Воронежский государственный технический университет (Воронеж), Воронежский государственный университет (Воронеж). — Воронеж, 2011. — 16 с.: граф., табл. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 13-16.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
612
Синтез, свойства и применение диэлектриков с высокой диэлектрической проницаемостью в кремниевых приборах = Synthesis, properties and applications of dielectrics with high dielectric constant in silicon based devices: монография / В. А. Гриценко [и др.] ; отв. ред. : В. А. Гриценко, А. Л. Асеев; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А. В. Ржанова [и др.]. — Новосибирск: Издательство СО РАН, 2011. — 156 с.: ил. — (Интеграционные проекты СО РАН / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние). — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-7692-1183-6: 5.00 р.
Монография посвящена синтезу, атомной, электронной структуре, механизмам переноса заряда и применению диэлектриков с высокой диэлектрической проницаемостью в кремниевых приборах флэш-памяти. Рассматриваются наиболее важные и перспективные диэлектрики Al2O3, HfO2, Ta2O5, ZrO2, TiO2, твердые растворы (HfO2)x(Al2O3)1-x. Анализируется также электронная структура трех традиционных ключевых диэлектриков в кремниевых приборах : оксида SiO2, оксинитрида SiO2Ny, и нитрида Si3N4 кремния. Книга адресуется студентам, аспирантам, инженерам и научным сотрудникам, занимающимся физикой твердого тела и микроэлектроникой.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
613
Распыление твердых тел ионной бомбардировкой: физическое распыление одноэлементных твердых тел / Р. Бериш [и др.] ; под ред. Р. Бериша, пер. с англ. под ред. В. А. Молчанова. — М.: Мир, 1984. — 336 с.: ил. — (Проблемы прикладной физики). — 3.70 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
614
Маев, Роман Григорьевич.
Акустическая микроскопия: монография / Р. Г. Маев. — М.: Торус Пресс, 2005. — 383 с.: ил., граф.; 22 см. — Библиогр.: с. 326-379. — ISBN 5-94588-031-0: 150.00 р.
В книге последовательно изложены принципы сканирующей акустической микроскопии - нового перспективного направления в развитии физических методов исследования микроструктуры материалов самой различной природы. Подробно излагаются особенности нового направления. различные применения, преимущества и границы применимости. В книге отражен современный уровень научных исследований в этой области. включая ряд разделов физической акустики и ультразвука, физики твердого тела, характеризации материалов и неразрушающего контроля. Книга рассчитана на широкий круг специалистов, а также может быть использована в качестве учебного пособия для аспирантов и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
615
Нестеров, Алексей Анатольевич.
Современные проблемы материаловедения керамических пьезоэлектрических материалов: монография / А. А. Нестеров, А. А. Панич ; рец.: В. А. Коган, Л. С. Лунин; Южный федеральный университет (Ростов н/Д). — Б. м., 2010. — 225 с.: ил. — Библиогр.: с. 208-223. — ISBN 978-5-9275-0736-8: 201.30 р.
В монографии обсуждены проблемы формирования различных уровней структурирования керамических материалов на основе фаз кислородно-октаэдрического типа (от нано- до микроуровня) и влияние элементов архитектуры керамических каркасов на электрофизические параметры пьезоэлектрических материалов, создаваемых на их основе. Рассмотрены проблемы синтеза пьезофаз методом твердофазных реакций, обсуждены преимущества и недостатки формирования фаз со структурой типа перовскита при низких температурах. Проанализированы известные технологии спекания керамики и способы, позволяющие варьировать микроструктур изделий. Предназначена для химиков, физиков и технологов, занимающихся изготовлением пьезопреобразователей различных типов на основе керамики, сформированной из пьезофаз кислородно-октаэдрического типа, а также будет полезна научным сотрудникам, аспирантам и студентам, специализирующимся в области материаловедения, химии и физики твердого тела и неорганической химии.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
616
Суханов, Александр Дмитриевич.
Фундаментальный курс физики : В четырех томах: [учебное пособие для вузов] / А. Д. Суханов. — М.; : Агар , Б.г.
Т. 2. Континуальная физика. В двух книгах. Кн. 1 :. — , 1998. — 709, [3] с.: ил. — ISBN 5-89218-045-X: 60.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
617
Фелдман, Леонард.
Основы анализа поверхности и тонких пленок: монография / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
618
Грундман, Мариус.
Основы физики полупроводников: нанофизика и технические приложения / М. Грундман; пер. с англ. под ред. В. А. Гергеля. — 2-е изд. — М.: Физматлит, 2012. — 771 с. ; [3] л. ил.: ил. — ISBN 978-5-9221-1394-6: 200.00 р.
В учебнике известного немецкого физика М. Грундмана излагаются как фундаментальные основы физики твердого тела, так и последние достижения в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов. Особое внимание уделяется оптоэлектронным и электромеханическим эффектам в сложных полупроводниковых структурах с микро- и наноразмерами функциональных элементов. Подробно рассматриваются приборные и схемотехнические реализации теоретических моделей. Изложены технические аспекты получения полупроводников и изготовления полупроводниковых структур. Во второе издание добавлены самые последние достижения в исследованиях органических и магнитных полупроводников, нанотехнологий, тонкопленочных транзисторов, прозрачных проводящих оксидов, новых типов солнечных батарей. Для научных работников и инженеров, работающих в области электроники и вычислительной техники, и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
619
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок: переводное издание / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова ; науч. ред. А. Н. Образцов; МГУ им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям. — М.: Научный Мир, 2012. — 392 с.: ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-91522-225-9: 588.37 р.
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
620
Изюмов, Юрий Александрович.
Электронная структура соединений с сильными корреляциями: научное издание / Ю. А. Изюмов, В. И. Анисимов. — М.: НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика", 2008. — 376 с.: граф. — Библиогр.: с. 346-375. — ISBN 978-5-93972-695-5: 685.10 р.
Анализируется электронная структура и физические свойства сильно коррелированных систем (содержащих элементы с незаполненными 3d, 4d, 4f и 5f оболочками) на основе теории динамического среднего поля (DMFT). В настоящее время DMFT является универсальным и наиболее эффективным методом исследования состояний с сильными электронными корреляциями. В книге детально излагаются основы метода и даются его применения к различным классам таких систем. Книга рассчитана на широкий круг читателей: физиков-теоретиков и экспериментаторов, исследующих сильно коррелированные системы. Она будет полезна для студентов, аспирантов и всех тех, кто хочет ознакомиться с актуальной областью физики твердого тела.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи