| 441 |
|
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 376-377. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00 р.
|
| 442 |
|
Оптические солитоны: От световодов к фотонным кристаллам / Ю. С. Кившарь, Г. П. Агравал; пер. с англ. под ред. Н. Н. Розанова. — М.: Физматлит, 2005. — 648 с.: ил. — Библиогр.: с. 625-631. — Предм. указ.: с. 632-647. — ISBN 5-9221-0584-1.
|
| 443 |
|
Лазерные доплеровские измерительные технологии: монография / Ю. Н. Дубнищев; Новосибирский государственный технический университет. — Новосибирск: НГТУ, 2002. — 414 с.: ил. — ISBN 5-7782-0318-7: 160.00 р.
|
| 444 |
|
Время-разрешенная оптическая спектроскопия сцинтилляционных кристаллов CsI(Tl): автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / А. А. Мелешко ; науч. рук. В. Ю. Яковлев, офиц. оппоненты: И. Н. Огородников, Ю. И. Тюрин; Томский политехнический университет (Томск), Иркутский государственный университет (Иркутск). — Томск, 2009. — 22 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 21-22.
|
| 445 |
|
Физика за рубежом 1985: сб. ст. : пер. с англ. / сост. Ю. А. Данилов. — М.: Мир, 1985. — 256 с.: ил. — (Серия А. Исследования). — Библиогр. в конце ст. — 0.95 р. |