Изложены физические процессы, связанные с получением и применением релятивистских интенсивных электронных пучков (РИЭП) в широком интервале длительности - от стационарных до наносекундных. Приведены основные схемы ускорителей с различными источниками питания: трансформаторного типа, емкостными и индуктивными накопителями и др. Обсуждены проблемы высоковольтной изоляции, измерения параметров ускорителей, диагностики пучков, безопасности. Дан обзор применения РИЭП в физических исследованиях и в технологии.Рассчитана на научных сотрудников, специализирующихся в области физики плазмы и электронных пучков, а также инженеров, занимающихся разработкой и применением ускорительной техники. Будет полезна студентам старших курсов и аспирантам соответствующих специальностей.

В книге излагается теория поверхностной ионизации с образованием положительных и отрицательных атомных ионов и ионов химических соединений, а также экспериментальные исследования основных закономерностей явления на металлических и полупроводниковых эмиттерах; рассматриваются примеры применения явления в практике физико-химических исследований и в технической электронике.Теоретическое рассмотрение закономерностей поверхностной ионизации проведено на основе представлений классической термодинамики и статистики. Особое внимание уделено рассмотрению общих закономерностей эмиссии с неоднородных эмиттеров.