Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 501 - 505 из 4545 для dc.subject any/relevant "электронная тех ... ( 0.090 сек.)

501
Технические средства АСУ : в 2-х т. справ. / Б. В. Карпов [и др.] ; под общ. ред. Г. Б. Кезлинга. — М.; : Машиностроение , Б.г.
Т. 2 : Технические средства СМ ЭВМ. — , 1986. — 719 с.: ил. — Библиогр.: с. 709-711. — 2.50 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
502
Электронная техника и приборы для экспериментальной физики: сб. науч. тр. / Моск. инж.-физ. ин-т; под ред. Т. М. Агаханяна. — М.: Энергоатомиздат, 1985. — 145 с.: ил. — Библиогр. в конце тр. — 1.40 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
503
Сергеев, Борис Сергеевич.
Схемотехника функциональных узлов источников вторичного электропитания: справочник / Б.С. Сергеев. — М.: Радио и связь, 1992. — 224 с.: ил. — Библиогр.: с. 215-224. — ISBN 5-256-00433-6: 0.80 р.
Обобщены современные схемотехнические решения функциональных узлов импульсных транзисторных преобразователей постоянного напряжения, используемых в источниках вторичного электропитания (ИВЭП) радиоэлектронной аппаратуры. Рассматриваются структурные схемы ИВЭП на основе транзисторных преобразователей, в том числе и бестрансформаторные с питанием от сети, различные виды силовых каскадов, устройства электрической изоляции, схемы сравнения, схемы повышения помехоустойчивости и защиты. Описываются новейшие разработки советских и зарубежных специалистов. Для инженерно-технических работников и радиолюбителей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
504
Элементная база, приборы и техника миллиметровых и субмиллиметровых диапазонов : сб. науч. тр. / АН УССР, Институт радиофизики и электроники, Науч. совет АН УССР по пробл. "Физика и техника миллиметровых и субмиллиметровых волн"; редкол. : А. А. Вертий (отв. ред.) [и др.]. — Харьков, 1990. — 167 с.: ил. — Библиогр. в конце тр. — 2.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
505
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение / Р. Андерхальт [и др.] ; под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина, под ред. Т. П. Каминской. — М.: Бином. Лаборатория знаний, 2012. — 582 с. ; [8] л. ил.: ил.; 24 см. — Авт. указаны на 5-й с. — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 574-582. — ISBN 978-5-9963-1110-1: 1320.00 р.
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи