В 1965 г. в Амстердаме вышла книга "Alpha-, beta- and gamma-ray spectroscopy" под редакцией К. Зигбана в двух томах на английском языке. Книга появилась в результате переработки и дополнения первого издания, вышедшего в 1955 г. под названием "Beta- and gamma-spectroscopy" и переведенного на русский язык в 1959 г.В предлагаемый вниманию читателей выпуск вошли первые 8 глав из первого тома второго амстердамского издания книги. В первых двух главах рассмотрены вопросы взаимодействия заряженных частиц (в основном, альфа-частиц и электронов) и гамма-излучения с веществом. В следующих четырех главах (гл. 3-6) описаны различного рода спектрометры: магнитные, кристалл-дифракционные, сцинтилляционные и, наконец, полупроводниковые, с применением и усовершенствованием которых за прошедние несколько лет связан значительный програсс в области ядерной спектроскопии. В седьмой главе излагаются некоторые методические вопросы, относящиеся главным образом к технике изготовления образцов и окошек, к применению многоканальных анализаторов и к абсолютным измерениям активности источников излучения. Наконец, последняя (восьмая) глава этого выпуска посвящена методам исследования схем распада, в том числе и машинным методам расшифровки аппаратурных спектров.Первый выпуск содержит два приложения, в которых читатель найдет справочный материал по коэффициентам ослабления гамма-излучения в широком диапазоне энергий фотонов и атомных номеров поглощающих веществ, по энергии связи электронов в атомах, а также перевод значений Bp в соответствующие значения энергий электронов.Книга рассчитана в основном на физиков-экспериментаторов - как работающих в области атомного ядра, так и использующих ядерные методы исследования в других областях науки и техники.

В книге рассматривается подход к созданию информационных систем для молекулярной спектроскопии. Книга состоит из двух частей. В первой части последовательно излагаются основы молекулярной спектроскопии - от методов измерения спектральных функций к представлению физических моделей, характеризующих влияние столкновений на контур, затем к формированию описания вычислительных задач спектроскопии и математическим формулировкам основных уравнений теории поглощения света молекулами. Во второй части книги приведены методические основы представления данных и знаний, которые применяются для проектирования и программной реализации информационной системы по молекулярной спектроскопии, рассматриваются структуры данных и метаданных, и формируется прикладная онтология молекулярной спектроскопии.