| 241 |
|
Поведение систем металл-водород при радиационном воздействии: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Ю. П. Черданцев ; науч. конс. И. П. Чернов, офиц. оппоненты : Б. А. Калин, Ю. Р. Колобов, В. П. Кривобоков; Томский политехнический университет (Томск), Российский научный центр "Курчатовский институт" (М.), Институт ядерного синтеза (М.). — Томск, 2005. — 39 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 36-39.
|
| 242 |
|
Энциклопедия технологии полупроводниковых материалов / под ред. К. А. Джексона, В. Шретера ; пер. с англ. под ред. Э. П. Домашевской. — Воронеж; : Водолей , Б.г.
Т. 1 : Электронная структура и свойства полупроводников. — , 2004. — 982 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Предм. указ.: с. 931-967. — ISBN 5-88563-041-0: 100.00 р.
|
| 243 |
|
Радиационное дефектообразование в электрических полях. Арсенид галлия, фосфид индия: монография / В. Н. Брудный, В. В. Пешев, А. П. Суржиков; Томский политехнический университет. — Новосибирск: Наука, 2001. — 136 с.: ил. — Библиогр.: с. 122-134. — ISBN 5-02-031919-8: 40.00 р.
|
| 244 |
|
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография: монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; отв. ред. И. Л. Шульпина. — СПб.: Наука, 2002. — 274 с.: 147 ил. — Парал. тит. лист англ. — Библиогр.: с. 269-270. — Предм. указ.: с. 271-274. — ISBN 5-02-024963-7.
|
| 245 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00 р.
|