| 996 |
|
Основы измерений: Датчики и электронные приборы / К. Б. Клаассен ; пер. с англ. Е. В. Воронова, А. Л. Ларина. — 3-е изд. — Долгопрудный: Интеллект, 2008. — 352 с.: ил. — Предм. указ.: с. 336-344. — Библиогр.: с. 345-346. — ISBN 978-5-91559-001-3: 770.00 р.
Перевод английского издания известного вводного курса теории и техники измерений, основанного на едином системном подходе к электрическим, тепловым, механическим измерениям. Учебное пособие для студентов и преподавателей естественно-научных и технических университетов, специалистов по метрологии, датчикам, приборостроению и системам управления.
|
| 997 |
|
О новом методе послойного нанесения покрытий: научное издание / С. Г. Псахье; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // М. ; СПб.
На основе молекулярно-динамического моделирования предложен новый подход к послойному нанесению покрытий. В основе подхода лежит взаимодействие нелинейного импульса со свободной поверхностью материала. Показано, что при достаточно большой амплитуде импульса происходит отрыв атомной плоскости со свободной поверхности, которая при налете на мишень образует многослойное покрытие. Комбинируя материалы "источника", можно создавать многослойные покрытия со сложным составом и структурой.
|
| 998 |
|
Регрессия, псевдоинверсия и рекуррентное оценивание = Regression and the moor-penrose pseudoinverse: монография / А. Алберт ; пер. с англ. Р. Ш. Липцера, под ред. Я. З. Цыпкина. — М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1977. — 223, [1] с.: ил. — Библиогр.: с. 216-220. — 0.69 р.
|
| 999 |
|
Оптико-электронные методы и средства в контрольно-измерительной технике: материалы семинара / Московский Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского; науч. ред. Ю. Г. Якушенков [и др.]. — М.: МДНТП, 1991. — 149 с.: ил. — Библиогр. в конце докл. — ISBN 5-254-00407: 0.52 р.
|
| 1000 |
|
Информационные аспекты молекулярной спектроскопии: научное издание / А. Д. Быков [и др.] ; отв. ред. М. В. Панченко; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ие, Ин-т оптики атмосферы. — Томск: Изд-во Института оптики атмосферы СО РАН, 2008. — 360 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94458-092-4: Б.ц.
В книге рассматривается подход к созданию информационных систем для молекулярной спектроскопии. Книга состоит из двух частей. В первой части последовательно излагаются основы молекулярной спектроскопии - от методов измерения спектральных функций к представлению физических моделей, характеризующих влияние столкновений на контур, затем к формированию описания вычислительных задач спектроскопии и математическим формулировкам основных уравнений теории поглощения света молекулами. Во второй части книги приведены методические основы представления данных и знаний, которые применяются для проектирования и программной реализации информационной системы по молекулярной спектроскопии, рассматриваются структуры данных и метаданных, и формируется прикладная онтология молекулярной спектроскопии.
|