| 1 |
|
Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия / Ю. Я. Томашпольский. — М.: Научный мир, 2006. — 109 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 98-109. — ISBN 5-89176-404-0: 208.00 р.
На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.
|
| 2 |
|
Плазмохимические реакции в анализе чистых веществ: монография / В. Г. Резчиков. — Нижний Новгород: ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2001. — 164 с.: ил. — Библиогр.: с. 158-164. — ISBN 5-85746-469-2: 75.00 р.
|
| 3 |
|
Спектральный анализ чистых веществ: монография / под ред. Х. И. Зильберштейна. — Л.: Химия, 1971. — 414, [2] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 381-410. — 1.92 р. |
| 4 |
|
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / под ред. Ф. Вейнберга. — М.; : Мир , Б.г.
Вып. 2 :. — , 1974. — 363 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 1.70 р.
|
| 5 |
|
Спектральный анализ: учебник / И. М. Кустанович. — 2-е изд., перераб. — М.: Высшая школа, 1967. — [391] с.
|
| 6 |
|
Практикум по спектроскопии: [учеб. пособие для физич. фак. ун-тов] / под ред. Л. В. Левшина. — М.: Издательство Московского университета, 1976. — 317, [3] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 0.84 р. |
| 7 |
|
Руководство к практикуму по спектральному анализу: учеб. пособие / Н. И. Тарасевич. — М.: Издательство Московского университета, 1977. — 135, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 114-115. — 0.29 р.
|
| 8 |
|
Методика эмиссионного спектрального определения азота в нефтепродуктах: дис. ... канд. хим. наук : 02.00.13 / И. И. Рыженко ; науч. рук. С. К. Кюрегян; Башкирский научно-исследовательский институт по переработке нефти. — Уфа, 1991. — 159 л. — На правах рукописи.
|
| 9 |
|
Аналитическая химия.
ч. 2 : Физико-химические методы анализа: в 2-х ч.; учеб. для химико-технол. спец. вузов / В. П. Васильев. — М.: Высшая школа, 1989. — 383, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 378. — Предм. указ.: с. 379-381. — ISBN 5-06-000067-2 (ч. 2): 1.10 р.
|
| 10 |
|
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов ; рец.: В. А. Неронов, В. А. Аксенов. — М.: Флинта: Наука, 2007. — 224 с.: ил.; 22 см. — Допущено УМО вузов РФ по образованию в обл. материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломир. специалистов по специальностям 150601 (071000) - "Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении". — ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта). — ISBN 978-5-02-034811-0 (Наука): 302 р.
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
|