Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1011 - 1020 из 2712 для dc.subject any/relevant "наноэлектроника ... ( 0.309 сек.)

1011
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation [Text] / Institute of Electrical and Electronics Engineers. — 1994-. — Piscataway: IEEE, 1994-. — ISSN 1070-9878.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1012
Автоматизированная установка для регистрации и анализа ползучести металлов и сплавов: науч. изд. / С. В. Коновалов; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк) // .
Описаны конструкции и программное обеспечение установки для испытаний на низкотемпературную ползучесть высокопластичных металлов и сплавов с относительно низкими температурами плавления. Установка позволяет регистрировать кривые ползучести с записью в компьютерный файл, а затем выполнять анализ полученных зависимостей. Приведен пример использования установки для исследования влияния поверхностных зарядов на ползучесть технически чистого алюминия при комнатной температуре.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1013
Мукаева, Гузель Рагиповна.
Прогнозирование физико-химических, технологических свойств индивидуальных углеводородов и нефтяных дисперсных систем с помощью электронной абсорбционной спектроскопии: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 02.00.13 / Г. Р. Мукаева ; науч. рук. М. Ю. Доломатов, офиц. оппоненты: Ф. Г. Унгер, Ю. П. Туров; Внедренческий Научно-исследовательский Инженерный Центр "Нефтегазтехнология" (Уфа). — Томск, 1997. — 25 с. — На правах рукописи.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1014
Полещук, Олег Хемусович.
Исследование переноса заряда в некоторых комплексах донорно-акцепторного типа: автореферат дис. ... канд. хим. наук : 02.00.04 / О. Х. Полещук ; науч. рук. Ю. К. Максютин, офиц. оппоненты: Г. К. Семин, Г. Г. Якобсон; Томский политехнический институт. — Томск, 1975. — 15 с. — На правах рукописи.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1015
Прялкин, Борис Сергеевич.
Исследование комплексов с переносом заряда симм-тринитробензола: автореферат дис. ... канд. хим. наук : 02.00.03 / Б. С. Прялкин ; науч. рук. Г. Л. Рыжова, офиц. оппоненты: В. Р. Шейнкер, В. Т. Новиков; Сибирский технологический институт (Красноярск). — Томск, 1982. — 16 с. — На правах рукописи.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1016
Roth, J. Reece.
Industrial Plasma Engineering / J. R. Roth. — Bristol; Philadelphia : Institute of Physics Publishing.
Vol. 1 : Princeples. — , 2003. — XVI,538 p.: il.; 24 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 0-7503-0317-4: 1648.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1017
Roth, J. Reece.
Industrial Plasma Engineering / J. R. Roth. — Bristol; Philadelphia : Institute of Physics Publishing.
Vol. 2 : Applications to Nonthermal Plasma Processing. — , 2001. — XI,645 p.: il.; 23 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 0-7503-0545-2: 1649.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1018
Егорова, Ольга Владимировна.
Техническая микроскопия: Практика работы с микроскопами для технических целей: С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова. — 2-е изд., перераб. — М.: Техносфера, 2007. — 360 с.: цв.ил., рис., табл. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 353-357. — ISBN 978-5-94836-129-1: 252.45 р.
Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем и их тестированием. В книге рассмотрены вопросы классификации технических микроскопов, подбора техники для решения задач микроскопических методов исследования образцов, а также вопросы стандартизации и методов контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Книга предназначена для специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, студентов технических вузов, разработчиков оптических систем, менеджеров и маркетологов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1019
Моделирование свойств, электронной структуры ряда углеродных и неуглеродных нанокластеров и их взаимодействия с легкими элементами: научное издание / А. С. Федоров [и др.] ; ред. В. В. Вальков; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН (Красноярск), Институт железнодорожного транспорта (Красноярск), Красноярский государственный технический университет (Красноярск). — Электрон. дан. — Новосибирск: СО РАН, 2006. — Системные требования: Систем. требования : ПРОЦЕССОР КЛАССА НЕ НИЖЕ PENTIUM 1, ДИСКОВОД CD-ROM 2-Х И ВЫШЕ, WINDOWS 95/98/XP/2000, МЫШЬ. - Загл. с этикетки диска. - Электрон. версия печ. публикации.
Описание различных квантово-химических методов расчета. Сведения об углеродных нанотрубках. Оригинальные работы авторов в области нанотехнологии.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1020
Хашпер, Леонид Моисеевич.
Определение реологических характеристик нефтяных дисперсных систем с применением радиоспектральных методов и электронной спектроскопии: дис. ... д-ра техн. наук : 02.00.13 / Л. М. Хашпер ; науч. рук. Ф. Г. Унгер, М. Ю. Доломатов; Институт химии нефти СО РАН (Томск), Сибирское отделение Российской Академии наук. — Томск, 1977. — 158 л. — На правах рукописи.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи