| 181 |
|
Оптико-механические и электронно-оптические приборы : межвуз. сб. / Новосиб. ин-т инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии ; ред кол. А. М. Итигин (отв. ред.) [и др.]. — Новосибирск; : НИИГАиК , Б.г.
Т. 41 (81) :. — , 1989. — 132 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.85 р.
|
| 182 |
|
Оптико-механические и электронно-оптические приборы : межвуз. сб. / Новосиб. ин-т геодезии, аэрофотосъемки и картографии ; ред. кол. А. М. Итигин (отв. ред.) [и др.]. — Новосибирск; : НИИГАиК , Б.г.
Т. 25 (65) :. — , 1985. — 155 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.00 р.
|
| 183 |
|
Electronic basis of the strength of materials: монография / J.J. Gilman. — Cambridge: Cambridge univ. press, 2003. — X,280 p.: Ill.; 25 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 0-521-62005-8: 126.00 р.
|
| 184 |
|
Влияние продолжительности механической активации на параметры микроструктуры и уровень микротвердости порошка тантала: научное издание / И. А. Дитенберг [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Новосибирск. С применением методов рентгеноструктурного анализа, растровой и просвечивающей электронной микроскопии проведено исследование особенностей микроструктуры порошка тантала в зависимости от интенсивности механической активации. Количественно аттестованы параметры зеренно-субзеренной и дефектной структуры. Обсуждаются особенности и механизмы формирования высокодефектных структурных состояний и их влияние на параметры микротвердости.
|
| 185 |
|
Электронная оптика и электронная микроскопия: переводное издание / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — М.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Библиогр.: с. 296-299. — Предм. указ.: с. 315-318. — 1.66 р.
|