В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.

Делается попытка дать единое теоретическое толкование свойств диэлектриков при воздействии электромагнитных полей широкого спектра частот на основе теории вынужденных колебаний. Дается обобщение теории на возможно большее число технических диэлектриков с широким спектром механизмов поляризации. Рассматривается упругая электронная и ионная поляризация, поляризация по типу математического маятника и физического маятника, дипольная поляризация и релаксационные виды поляризации. Монография может быть полезна для научных сотрудников и технологов, работающих в области физики диэлектриков.

Коллективная монография, написанная ведущими специалистами США, Великобритании, ФРГ, Бельгии и Франции. Освещены все основные направления исследований в области физики аморфного состояния - от проблем теоретического описания электронного спектра, кинетических и оптических свойств до проблем изготовления солнечных батарей на основе аморфных полупроводников.Для специалистов, работающих в области физики неупорядоченных систем, физики твердого тела и электронной технологии.