Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристаллах на основе эффекта Бормана: научное издание / Л. Н. Данильчук, А. О. Окунев, В. А. Ткаль ; рец. Е. М. Труханов; Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого (Новгород). — Великий Новгород: НовГУ, 2006. — 493 с.: ил. — Библиогр.: с. 464-493. — ISBN 5-89896-303-0: 200 р.
В монографии рассматриваются теоретические основы, методика и практика применения метода рентгеновской топографии на основе эффекта Бормана (РТБ). Приводятся методика и результаты моделирования теоретического контраста от основных типов дефектов в монокристаллических материалах в методе РТБ и его сопоставление с экспериментальным контрастом. Предложены методы цифровой обработки изображений, позволившие устранить слабый контраст и фоновую неоднородность топограмм и фотонегативов, влияние зернистости фотоэмульсии, представить изображение дефектов в виде, более удобном для анализа и идентификации дефектов. Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.