Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1446 - 1450 из 6156 для dc.subject any/relevant "Международная с ... ( 2.004 сек.)

1446
Гуртов, Валерий Алексеевич.
Твердотельная электроника: учеб. пособие / В. А. Гуртов. — 3-е изд., доп. — М.: Техносфера, 2008. — 512 с.: ил. — (Мир электроники). — Предм. указ.: с. 509-510. — ISBN 978-5-94836-187-1: 478.00 р.
Рассматриваются основные типы полупроводниковых приборов и физические процессы, обеспечивающие их работу. Приводится анализ электронных процессов в объеме полупроводников, в электронно-дырочных переходах и в области пространственного заряда на поверхности полупроводников. Подробно представлены характеристики диодов, транзисторов, тиристоров, лавинно-пролетных диодов, светодиодов, полупроводниковых лазеров и фотоприемников, как на основе кремния, так и на перспективных материалах GaAs, GaN, SiC. Рассмотрены характеристики полупроводниковых приборов при экстремальных температурах, квантовый эффект Холла, микроминиатюризация и приборы наноэлектроники. В третьем издании учебного пособия добавлены разделы по теории поглощения и генерации оптического излучения, дополнительно введены разделы о полевых транзисторах с высокой подвижностью электронов, репрограммируемых элементах памяти и солнечных батареях, расширено описание характеристик полупроводниковых приборов при высоких температурах. Для студентов вузов, специализирующихся в области физики, микроэлектроники и электронной техники, аспирантов и научных сотрудников.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1447
Марголин, Владимир Игоревич.
Физические основы микроэлектроники: учеб. пособие для вузов по спец. "Проектирование и технология радиоэлектронных средств" направления "Проектирование и технология электрон. средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. — М.: Академия, 2008. — 398, [1] с.: ил.; 22 см. — (Высшее профессиональное образование). — Библиогр.: с. 395. — ISBN 978-5-7695-4227-5: 543.00 р.
Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники : получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1448
Покотило, Ирина Леонидовна.
Развитие теории лазерного разрушения прозрачных оптических материалов: зависимость порога разрушения от длительности импульса и закономерности разрушения покрытий: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / И. Л. Покотило ; науч. рук.: А. А. Маненков, М. Ф. Колдунов, офиц. оппоненты: В. И. Емельянов, М. Н. Либенсон; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Научно-производственное объединение ОПТРОНИКА, Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН (М.). — М., 1998. — 17 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-17.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1449
Техника и технологии локализации и ликвидации разливов нефти и нефтепродуктов: справочник / [И. А. Мерициди, В. Н. Ивановский, А. Н. Прохоров и др] ; под ред. И. А. Мерициди. — СПб.: НПО "Профессионал", 2008. — 819, [1] с.: [2] л. ил. — (Научно-промышленная энциклопедия России). — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-91259-016-0: 6540.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
1450
Гудок, Надежда Сергеевна.
Экспериментальные методы физики пласта / Н. С. Гудок, Н. Н. Богданович. — М.: Компания Спутник+, 2007. — 594 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 558-590. — ISBN 978-5-364-00745-2: 200.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи