В книге впервые показана глубокая взаимосвязь между проблемами патентования в области химии и смежных областях и методологическими проблемами химии как науки, в частности сложными, диалектически изменяющимися химическими понятиями — «химическое соединение», «новый класс соединений» и др..

Книга освещает круг вопросов, которые могут составить область науки о нанообъектах, процессах и явлениях, проходящих на уровне размеров 1-100 нм. В этой области наблюдаются эффекты, чувствительные как к отдельным атомно-молекулярным уровням энергии, так и к коллективным свойствам тел. Развитие науки о нанокластерах и наносистемах и методов их исследования привело к созданию нанотехнологии, наноматериалов и наноустройств, отличающихся уникальными свойствами и перспективами применения. Книга представляет собой попытку соединения теоретических и экспериментальных данных о нанокластерах и наносистемах с некоторыми вопросами более общего, вводного характера: методами исследования нанокластеров и поверхности твердого тела и микроскопическими и термодинамическими подходами к изучению нанокластеров и поверхности. Такая структура книги нашла свое отражение благодаря работам автора и Институте химической физики им. Н.Н. Семенова РАН и чтению курса лекций по физико-химии нанокластеров и наноструктур В Московском государственном университете им. М.И. Ломоносова, на факультете наук о материалах. Книга может быть полезной как для студентов и аспирантов, так и для научных работников, ведущих исследования или начинающих работать в области нанотехнологий.

Очередной том серии справочных изданий "Металлы и сплавы" посвящен современным возможностям использования основных методов аналитического контроля состава металлических материалов - методов атомно-эмиссионного, атомно-абсорбционного и рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, интенсивное развитие и широкое практическое признание которых началось во второй половине 20в. В сжатом виде изложены концептуальные идеи российской аналитической школы и теоретические основы методов. Дано описание применяемой аппаратуры, представлены ее характеристики, диапазоны определяемых содержаний и пределы обнаружения элементов, метрологические характеристики соответствующих методик анализа, а также приведены обширные справочные данные, необходимые для практического использования методов атомной спектроскопии в аналитических целях. Книга предназначена для научного и инженерно-технического персонала аналитических лабораторий, химиков-материаловедов, преподавателей и студентов университетов, химико-технологических и химико-металлургических вузов, а также для специалистов смежных профессий.