| 91 |
|
Методы получения и свойства нанообъектов: учеб. пособие / [Минько Н. И. и др.]. — М.: Флинта: Наука, 2009. — 162, [1] с.: ил.; 21 см. — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр.: с. 157-163. — ISBN 978-5-9765-0326-7 (Флинта). — ISBN 978-5-02-034741-0 (Наука): 228.00 р.
В пособии рассмотрены основные методы получения нанообъектов, наночастиц, наноструктур: наносборка, ионная бомбардировка, ударные волны, вакуумное испарение, катодное распыление, низкотемпературна плазма, плазмохимический синтез, диспергирование, механохимический синтез, самораспространяющийся высокотемпературный синтез, взрывной синтез, электрический взрыв проводников, электроэрозионный метод, осаждение из жидкой фазы и осаждение из расплавов, кристаллизация и микроликвация и т. д. Представлены основные свойства нанообъектов: магнитные, термические, каталитические, механические. Дано краткое описание наиболее распространенных методов исследования наночастиц и наноструктурных объектов. Для студентов и аспирантов, обучающихся по специальности "Нанотехнологии" и смежным специальностям, а также для инженеров и научных сотрудников.
|
| 92 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2009. — 177 с.: ил. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036976-4: 292.50 р.
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводников, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
|
| 93 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов; Рос. АН, Институт физики микроструктур. — М.: Техносфера, 2005. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 145.00 р.
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
|
| 94 |
|
Англо-русский словарь по нанотехнологиям: 80 000 терминов и сокращений / Н. Н. Новичков. — М.: Информ. агентство АРМС-ТАСС, 2010. — 1092, [1] с. — (Научно-технические словари XXI века). — ISBN 978-5-98384-013-3.
|
| 95 |
|
Нанотехнологии: существующие методы классифицирования и поиска патентных документов: практ. пособие / Г. С. Ненахов, Г. А. Негуляев, Л. А. Цикунова. — М.: Патент, 2010. — 215, [1] с.; 22 см. — Библиогр.: с. 210-212. — ISBN 978-5-91808-015-3: 1020.00 р.
В книге рассматриваются исходные понятия новой научно-технической дисциплины, получившей название «нанотехнологий», проведен анализ различных определений данной дисциплины и ее основных положений, направленный на выявление ее взаимосвязей с другими областями техники. Анализируются существующие подходы к классифицированию патентных документов. Дается характеристика основных баз данных, содержащих патентные документы в сфере нанотехнологий. Приводятся некоторые предварительные рекомендации по проведению экспертизы и подаче заявок на изобретения в сфере нанотехнологий, а также обоснование пересмотра подкласса Международной патентной классификации В82В «Наноструктуры; их изготовление или обработка» как основы для совершенствования поиска в данной области.
|