Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00 р.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.