Книга посвящена теории и практическому применению новых оптических методов, основанных на пятнистой структуре (спекл-структуре) изображений, получаемых в когерентном свете. Такие методы открывают новые возможности в отношении измерения смещений, деформаций, вибраций, определения формы и качества диффузных объектов, обработки изображений. Рассчитана на широкий круг научных работников и специалистов, занимающихся проблемами когерентной оптики и применяющих лазерные методы в научных исследованиях.

В работе описана методика выявления на оптических изображениях элементов деформационного рельефа, формирующегося в результате локализованного развития деформации в области вершины усталостной трещины, с использованием аппарата анализа изображений. Предложена численная характеристика, основанная на вычислении отношения площади элементов деформационного рельефа к площади фона, как интегральный параметр оценки степени деформированности поверхности.

В сборнике представлены работы сотрудников лаборатории кристаллофизики Института физики СО АН СССР. Наряду с обзорными статьями по фазовым переходам типа смещения и оптическим свойствам диэлектриков вблизи фазовых превращений сборник содержит работы посвященные оригинальными исследованиям по кристаллохимии хлоридов типа АВХ, микроскопическим и макроскопическим свойствам сегнетоэлектриков и т. д.