| 1 |
|
Применение фрактального описания для анализа изображений в сканирующей зондовой микроскопии: научное издание / А. В. Панин, А. Р. Шугуров; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // М.
Разработана методика аттестации шероховатости поверхности твердых тел, основанная на вычислении фрактальной размерности изображений, получаемых с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Путем тестирования на модельных самоаффинных броуновских поверхностях определены условия корректного измерения фрактальной размерности. Разработанный алгоритм применен для численного описания шероховатости поверхности тонких пленок SiO2, нанесенных при различных температурах. Показано, что в отличие от перепада высоты и среднеквадратичной шероховатости, фрактальная размерность демонстрирует хорошую корреляцию с морфологией поверхности тонких пленок оксида кремния.
|
| 2 |
|
Морфология поверхности и структура пленок SiO2 и BN, полученных методом газофазного химического осаждения: научное издание / А. В. Панин [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН (Новосибирск) // М.
Методами атомно-силовой и просвечивающей электронной микроскопии исследованы морфология поверхности и структура тонких пленок двуокиси кремния, нитрид бора, а также их двухслойной композиции. Пленки наносились методом газофазного химического осаждения по подложки GaAs. Показано, что температура подложки оказывает существенное влияние на рельеф поверхности и внутреннюю микроструктуру диэлектрических пленок. Слои, нанесенные при 473К, имеют аморфное строение с кристаллическими включенииями, а при 573К и выше являются нанокристаллическими. Усатновлено качественное соответствие между морфологией поверхности и структурой исследованных пленок.
|
| 3 |
|
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
Т. II :. — М.: Техносфера, 2010. — 1040 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-263-2: 1600.00 р.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
|
| 4 |
|
Нелинейные волны локализованного пластического течения в наноструктурированных поверхностных слоях твердых тел и тонких пленках: научное издание / А. В. Панин; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Новосибирск.
Обнаружен новый механизм деформации в наноструктурированных поверхностных слоях деформируемого твердого тела и тонких пленках — развитие локализованного пластического течения в виде двойных спиралей. Сформулированы условия развития нового механизма деформации мезомасштабного уровня. Показано, что подобный механизм деформации может развиваться только в многоуровневой среде, имеет волновую природу и хорошо согласуется с полевой теорией неупругой деформации.
|
| 5 |
|
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил., фото.цв.; 21 см. + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00 р.
|
| 6 |
|
XVII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 1998. — 326 с.: ил. — Авт. указ.: с. 319-325. — ISBN 5-89589-004-0: 25.00 р.
|
| 7 |
|
Импульсная электронная эмиссия из систем металл-диэлектрик-металл на основе пленок оксинитрида кремния: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. И. Зеленский ; науч. рук. Г. А. Воробьев; Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (Томск). — Томск, 1985. — 204 с. — На правах рукописи. — Для служебного пользования. — Библиогр.: с. 186-203.
|
| 8 |
|
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
Т. III :. — М.: Техносфера, 2010. — 832 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-264-9: 1300.00 р.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
|
| 9 |
|
Влияние шероховатости твердых тел на трение и износ: научное издание / В. С. Комбалов ; отв. ред. И. В. Крагельский; Научный совет по трению и смазкам АН СССР. — М.: Наука, 1974. — [111] с.: ил. — Библиогр.: с. 103-109. — 0.46 р.
В книге рассматривается вопрос о существовании равновесной шероховатости на поверхностях трения. Предлагается формула расчета равновесной шероховатости, основанная на молекулярно-механической теории трения и теории усталостного изнашивания. Предложен новый комплексный критерий оценки шероховатости. Показана аналитическая связь комплексного критерия шероховатости с площадью касания, коэффициентом трения, интенсивностью изнашивания и контактной жесткостью. Рассчитана на научных и инженерно-технических работников.
|
| 10 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии: материалы временных коллективов. — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Системные требования: Загл. с диска. — 150.00 р.
|