This completely revised second edition of the standard work has been expanded by some twenty percent to include more information on the latest developments and new apparatus. In particular, sections have been added on microplasmas and new types of spectrometers, while that on the rapidly expanding field of speciation with practical examples from life and environmental sciences has been included. Still in one handy volume, the book covers all the important modern aspects of atomic adsorption, emission and fluorescence spectroscopy as well as plasma mass spectroscopy in a readily comprehensible and practice-oriented manner. A thorough explanation of the physical, theoretical and technical basics, example applications including the concrete planning of analyses and comprehensive cross-references to the latest literature allow even newcomers easy access to the methodologies described. Jose Broekaert, born in 1948, studied chemistry at the University of Gent, Belgium, graduating in 1970. After receiving his PhD from the University of Gent in 1976 and a stay in Germany as Alexander-von-Humboldt postdoctoral fellow the following year, he was a scientist at the I5AS, Dortmund from 1978 to 1991 and obtained the degree of "Geaggregeerde voor het hoger onderwijs" from the University of Antwerp, Belgium in 1985. He became associate professor at the University of Dortmund in 1991, full professor at the University of Leipzig in 1998 and, in 2002, joined the University of Hamburg. In 1998 he was a visiting Fulbright research scholar at Indiana University, Bloomington, USA, where he is since 2004 adjunct Professor of chemistry. His main research interests include the development of plasma optical emission, atomic absorption and inorganic mass spectrometry methods and their application in solving analytical problems.

На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.