Источники излучения на основе волоконных световодов, активированных ионами Yb3+: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / Д. А. Грух ; науч. рук. А. С. Курков, офиц. оппоненты: А. Е. Наний, Д. А. Николаев; Научный центр волоконной оптики (М.), Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Институт радиотехники и электроники РАН (М.). — М., 2005. — 19 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 18-19.

Тепловизионный контроль воды в авиационных сотовых панелях в процессе эксплуатации самолетов: автореферат дис. ... канд. техн. наук: 05.11.13 / Д. А. Нестерук ; науч. рук. В. П. Вавилов, офиц. оппоненты: В. А. Воробьев, В. А. Захаренко; Научно-исследовательский институт интроскопии (Томск), Томский политехнический университет (Томск), МНПО "Спектр" (М.). — Томск, 2005. — 20 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20.

Разработка и внедрение мобильных рентгенотелевизионных систем для промышленной дефектоскопии и антитеррористической диагностики: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / Е. Ю. Усачев ; науч. рук. В. Л. Чахлов, офиц. оппоненты : Б. И. Капранов, Е. И. Косарина; ФГНУ "НИИ ИН" (Томск), Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (М.), МНПО "Спектр" (М.), Томский политехнический университет (Томск), Научно-исследовательский институт интроскопии (Томск). — Томск, 2005. — 22 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 21-22.

Нелинейная спектроскопия атомов рубидия в газовой ячейке и магнитооптической ловушке с использованием полупроводниковых лазеров: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. М. Энтин ; науч. рук. И. М. Бетеров, офиц. оппоненты: Г. И. Сурдутович, П. Л. Чаповский; Институт физики полупроводников СО РАН (Новосибирск), Новосибирский государственный университет (Новосибирск), Институт автоматики и электрометрии СО РАН (Новосибирск). — Новосибирск, 2006. — 19 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-19.

Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов: учеб. пособие для вузов / Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков. — 3-е изд., стереотип. — СПб.: Лань, 2002. — 424 с.: ил. — (Учебники для вузов. Специальная литература). — Библиогр.: с. 418. — Предм. указ.: с. 419-421. — ISBN 5-8114-0438-7: 110.00 р.

Энциклопедия технологии полупроводниковых материалов / под ред. К. А. Джексона, В. Шретера ; пер. с англ. под ред. Э. П. Домашевской. — Воронеж; : Водолей , Б.г.

Основы оптической радиометрии: монография / В. С. Иванов [и др.] ; под ред. А. Ф. Котюка. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. — 544 с.: ил. — Библиогр.: с. 536-541. — ISBN 5-9221-0427-6: 494.17 р.

Mathcad 11: Полное руководство по русской версии / Е. М. Кудрявцев. — М.: ДМК Пресс, 2005. — 592 с.: ил. — ISBN 5-94074-175-4: 145.00 р.

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Рос. АН, Институт физики микроструктур; Институт физики микроструктур РАН. — М.: Техносфера, 2004. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 176.00 р.

Справочник технолога-оптика: справочное издание / М. А. Окатов [и др.] ; под ред. М. А. Окатова. — 2-е изд., исправ. и доп. — СПб.: Политехника, 2004. — 679 с.: ил. — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр.: с. 656-675. — ISBN 5-7325-0236-X.