Монография посвящена исследованию дифракционных явлений на протяженных (по глубине) объектах постоянной толщины - пластинах - применительно к их размерному контролю. Предложена и разработана конструктивная оптико-физическая модель дифракции света на основе эквивалентных диафрагм и полей, что позволило при расчетах полей в дальней зоне и в плоскости изображений граней протяженного объекта использовать стандартные методы фурье-оптики на базе скалярной теории дифракции света Кирхгофа - Френеля. Решения получены в классе интегральных функций Френеля для пластин с различной конфигурацией и отражательной способностью. На основе предложенной конструктивной аппроксимации интегральной функции Френеля детально изучено в аналитическом виде поведение спектров и изображений протяженных объектов с учетом их геометрических и оптических характеристик, а также параметров оптической системы. Результаты исследований подтверждены экспериментально.Книга адресована научным работникам, инженерам, аспирантам, специализирующимся в области оптических измерительных технологий, а также студентам старших курсов университетов.

Многие задачи обработки информации не могут быть решены без привлечения оптических методов. Преобразование света в оптических системах изучается с использованием закономерностей, управляющих работой линейных колебательных систем. Вопросы дифракции и формирования оптического изображения, а также принципы пространственной фильтрации и оптической обработки информации рассмотрены на основе естественного обобщения принципов линейной фильтрации электрических сигналов. Обсуждаются методы улучшения качества изображений и наблюдения фазовых объектов; согласованная фильтрация и проблема распознавания образов; способы получения голограмм без опорного пучка, основанные на идеях корреляционной фильтрации, и ряд других задач. Книга предназначена для студентов и преподавателей радиофизических и оптических специальностей, инженеров-разработчиков и исследователей.

В книге излагаются сведения о теоретических и физических основах оптико-электронных приборов и методах их расчета. Рассматриваются основные законы излучения, характеристики источников излучения. Излагаются сведения об оптических системах приборов. Приводятся методы расчета характеристик источников и приемников излучения, прозрачности атмосферы, параметров оптико-электронных приборов с учетом ослабления излучения в атмосфере и влияния фонов. Даются рекомендации для обоснования оптимальных в рассматриваемых условиях приемников излучения. Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и проектированием оптико-электронных приборов. Она будет полезна также студентам вузов, специализирующимся в этой области.

В книге изложена общая теория измерительно-регистрирующих систем; приборы и методы исследований быстропротекающих процессов средствами радиоэлектроники и оптики; основные методы экспериментальной физики — фурье-оптика, спектроскопия, интерферометрия и голография, зондирование электромагнитными волнами, рентгеновские и корпускулярные методы исследования; методы обработки и интерпретации результатов измерений. Физические основы методов исследования излагаются в объеме достаточном для того, чтобы последующее изучение специальной литературы не вызывало затруднений. Что касается измерительной аппаратуры, здесь прежде всего рассматриваются принципы ее работы, поскольку именно это наиболее важно, при планировании и проведении экспериментов или при разработке приборов. В книге широко используются методы теории информации, так как именно с их помощью возможно наиболее адекватно описывать и анализировать свойства измерительно-регистрирующих систем, прогнозировать качество выходных сигналов и находить критерии регуляризации при решении обратных задач. Книга адресована студентам и аспирантам физических и физико-технических специальностей, научным сотрудникам, планирующим и проводящим экспериментальные исследования, а также инженерам, занятым разработкой, тестированием и сертификацией измерительных приборов и измерительно-регистрирующих систем.

В монографии изложены основы теории систем в оптике рассеивающих сред. Обсуждаются вопросы применения приближенных методов решения уравнения переноса излучения и метода Монте-Карло для описания каналов с рассеянием в оптико-электронных комплексах лазерного зондирования, локации, связи и в системах видения. Рассмотрены основные закономерности переноса одномерных и двумерных (изображения) оптических сигналов через однородные, стратифицированные, детерминированные и случайно-неоднородные атмосферно-оптические каналы. Особое внимание уделено исследованию влияния микрофизических свойств дисперсных сред на характеристики каналов с рассеянием. В рамках малоуглового приближения теории переноса рассмотрены вопросы оптической диагностики дисперсного состава и пространственной структуры рассеивающих сред. Для научных сотрудников, аспирантов, инженеров, студентов по специальностям "оптика рассеивающих сред", "разработка оптико-электронных комплексов".

Рассмотрен широкий круг вопросов, посвященных сведениям о методах расчета спектральных характеристик многослойных систем, образованных прозрачными, непрозрачными и слабо поглощающими слоями. Большое внимание уделено оптическим характеристикам однослойных, двухслойных, трехслойных и многослойных систем. Дано представление о влиянии угла наклона падающего излучения на характер изменения спектральных коэффициентов отражения и пропускания. Учебник предназначен для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки "Оптотехника", "Лазерная техника и лазерные технологии", "Фотоника и оптоинформатика" и другим физическим и технологическим направлениям подготовки.

В монографии описан комплекс алгоритмических и аппаратурно-программных средств математического моделирования различных физических процессов и природных явлений. Особое внимание уделено задачам физики низко- и высокотемпературной плазмы, нанотехнологий (включая нанофотонику и наноматериалы) и биоинформатики. Отражены основные этапы процесса моделирования, включая разработку математических моделей и последовательных и параллельных методов, проверку их адекватности и реализацию на распределенных вычислительных системах. Монография рассчитана на специалистов в области математического моделирования, параллельных вычислительных технологий, распределенных вычислительных и GRID систем, а также параллельного программирования.

Рассматриваются методы и средства оптических измерений и исследований, способы определения порогов чувствительности и характеристик точности методов и аппаратуры. Показаны инновационные направления в оптических измерениях и исследованиях оптических систем, включающие анализ и синтез новых схемных решений копьютеризированной аппаратуры для исследования аберраций и ошибок оптических систем и поверхностей, методов и аппаратуры для определения характеристик качества изображения.

В книге рассмотрены оснвные современные методы определения содержания влаги, широко применяемые для контроля качества сырья, промежуточной и готовой продукции химической промышленности. Даны теоретические основы этих методов, их аппаратурное оформление и практические рекомендации при анализе химических веществ. Основное внимание уделено универсальным методам периодического контроля влажности с простым и доступным оборудованием: химическим, физико-химическим, электрохимическим и оптическим. Книга предназначена для химиков-аналитиков, научных сотрудников и лаборантов научно-исследовательских институтов и заводских лабораторий, а также может быть полезна для студентов химических вузов и учащихся техникумов.

Книга посвящена новому направлению в оптике и оптоэлектронике - информационной оптоэлектронике. Успехи применения теории информации к системам связи вызвали интерес к применению основных положений этой теории к оценке эффективности оптических и оптоэлектронных систем. Однако значительно более высокая сложность преобразований, проводимых в таких системах, потребовала решения специальных проблем, относящихся к дискретизации световых полей и световых сигналов, проходящих через системы. Часть из них была решена при возникновении нового направления, в том числе и одним из авторов, другая часть находится на стадии решения, тем более, что оптическая и оптоэлектронная аппаратура совершенствуется и необходимы количественные методы оценки пригодности такой аппаратуры к решению соответствующих задач. Для физиков и конструкторов оптической и оптоэлектронной аппаратуры, а также для студентов старших курсов соответствующих факультетов университетов, аспирантов и научных работников.