Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциями - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрлогического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

В справочнике приведены физико-химические характеристики различных веществ, сведения по номенклатуре химических соединений, метрологии, лабораторной технике, технике безопасности и ряду других вопросов, представляющих интерес для химиков различной квалификации. Для широкого круга работников химических специальностей и смежных профессий, работников производственных, аналитических и научно-исследовательских лабораторий, а также преподавателей, студентов вузов и учащихся техникумов.

В книге изложен новый, достаточно общий и эффективный подход к проблемам измерения, кодирования и управления. Впервые в основу определений шкалы, единицы измерения, эталона и математических интерпретаций междисциплинарных теорий измерения, кодирования и управления положены фундаментальные конструкции анализа — фильтры Картана, направленности (обобщенные последовательности) Мура и Смита, методы теории множеств, топологии и функционального анализа. Полученные результаты применимы при построении шкал и создании эталонов в самых разнообразных классических и неклассических направлениях современной метрологии и теории управления, в математической и технической физике.Для широкого круга специалистов и научных работников, использующих современные информационные технологии в области естественных, технических, биологических и социальных наук, а также для аспирантов и студентов высших учебных заведений.

Книга состоит из трех глав и четырех приложений. Глава I содержит введение в проблему оценивания данных ключевых сличений национальных эталонов. Описаны цели и задачи ключевых сличений, очерчена специфика ключевых сличений в ряду межлабораторных сличений. Приведен обзор публикаций по проблеме оценивания данных ключевых сличений. Глава II посвящена оцениванию результатов ключевых сличений Международного Комитета Мер и Весов. Рассмотрены случаи стабильного эталона сравнения, а также линейного и скачкообразного дрейфа значения величины, воспроизводимой эталоном сравнения. Предложены и проанализированы различные способы выражения степени эквивалентности национальных эталонов. Решена задача оценивания систематических сдвигов результатов лабораторий-участниц на основе теоремы Байеса. Глава III рассматривает оценивание данных региональных ключевых сличений. Проведен сравнительный анализ двух сложившихся подходов к оцениванию данных региональных ключевых сличений. Предложен алгоритм, обеспечивающий связь результатов ключевых региональных сличений со сличениями Международного Комитета Мер и Весов с минимальной неопределенностью вычисления степени эквивалентности эталонов-участников региональных сличений. Подход к оцениванию систематических сдвигов результатов измерений, предложенный во второй главе, распространен на случай региональных ключевых сличений. В Приложения выделены, кроме основных используемых сокращений, две разработанные рекомендации КООМЕТ по оцениванию данных сличений национальных эталонов.

Приведены отклонения формы и расположения поверхностей, допуски на угловые размеры, допуски и посадки для метрических и трапецеидальных резь: изложены сведения об измерительном инструменте и методах измерения поверхностей на токарных станках. Приведены основные технические характеристики измерительных средств, рассмотрены прямые и косвенные методы измерения крупногабаритных деталей, способы измерения резьб, конических и других поверхностей, настойка инструмента на размер вне станка. Для токарей всех отраслей машиностроения, рабочих-контролеров; может быть полезен учащимся ПТУ.

Представлена информация о приборах, созданных в Институте химии нефти СО РАН.

В монографии приведены данные экспериментальных исследований новых типов квантовых преобразователей электрического напряжения, тока и температуры, а также стабилизаторов, в которых задание вводится с помощью сигнала частоты. Особое внимание уделено гелиевым квантовым стабилизаторам постоянного тока и преобразователям тока в частоту, а также импульсным преобразователям температуры в частоту, основанным на использовании ядерного квадрупольного резонанса.