| 1371 |
|
Твердотельная электроника: учеб. пособие / В. А. Гуртов. — 3-е изд., доп. — М.: Техносфера, 2008. — 512 с.: ил. — (Мир электроники). — Предм. указ.: с. 509-510. — ISBN 978-5-94836-187-1: 478.00 р.
Рассматриваются основные типы полупроводниковых приборов и физические процессы, обеспечивающие их работу. Приводится анализ электронных процессов в объеме полупроводников, в электронно-дырочных переходах и в области пространственного заряда на поверхности полупроводников. Подробно представлены характеристики диодов, транзисторов, тиристоров, лавинно-пролетных диодов, светодиодов, полупроводниковых лазеров и фотоприемников, как на основе кремния, так и на перспективных материалах GaAs, GaN, SiC. Рассмотрены характеристики полупроводниковых приборов при экстремальных температурах, квантовый эффект Холла, микроминиатюризация и приборы наноэлектроники. В третьем издании учебного пособия добавлены разделы по теории поглощения и генерации оптического излучения, дополнительно введены разделы о полевых транзисторах с высокой подвижностью электронов, репрограммируемых элементах памяти и солнечных батареях, расширено описание характеристик полупроводниковых приборов при высоких температурах. Для студентов вузов, специализирующихся в области физики, микроэлектроники и электронной техники, аспирантов и научных сотрудников.
|
| 1372 |
|
Физические основы микроэлектроники: учеб. пособие для вузов по спец. "Проектирование и технология радиоэлектронных средств" направления "Проектирование и технология электрон. средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. — М.: Академия, 2008. — 398, [1] с.: ил.; 22 см. — (Высшее профессиональное образование). — Библиогр.: с. 395. — ISBN 978-5-7695-4227-5: 543.00 р.
Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники : получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
|
| 1373 |
|
Волновые коллективные процессы в каналах транспортировки релятивистских электронных пучков: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.02, 01.04.08 / М. Г. Никулин ; офиц. оппоненты: В. К. Гришин, А. М. Игнатов, С. С. Моисеев; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Московский радиотехнический институт РАН (М.), Московский государственный инженерно-физический институт (Технический университет) (М.). — М., 1998. — 31 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 27-31.
|
| 1374 |
|
Развитие теории лазерного разрушения прозрачных оптических материалов: зависимость порога разрушения от длительности импульса и закономерности разрушения покрытий: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / И. Л. Покотило ; науч. рук.: А. А. Маненков, М. Ф. Колдунов, офиц. оппоненты: В. И. Емельянов, М. Н. Либенсон; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Научно-производственное объединение ОПТРОНИКА, Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН (М.). — М., 1998. — 17 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-17.
|
| 1375 |
|
Регулярные и случайные поля в эволюции волновых спектров в плазме: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.02, 01.04.08 / С. И. Попель ; офиц. оппоненты: А. С. Кингсеп, С. С. Моисеев, Ю. М. Алиев; Институт динамики геосфер РАН (М.), Институт прикладной физики РАН (Нижний Новгород), Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.). — М., 1998. — 24 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 21-24.
|