Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 766 для dc.subject any/relevant "МЕТРОЛОГИЯ ЗАКО ... ( 0.069 сек.)

1
Законодательная и прикладная метрология / Учредитель: Всерос. НИИ метрол. службы. — 1997-. — М.: РСК-Консалтинг, 1997-. — ISSN 0889-575Х.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Российские нанотехнологии [Текст] / !o200g.pft: FILE NOT FOUND!. — 2006-. — М.: ООО "Парк-медиа", 2006-. — ISSN 1992-7223.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Контрольно-измерительные приборы и системы. — М.: ООО "Эликс+".
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Измерительная техника: научно-технический журнал / Государственный комитет СССР по управлению качеством продукции и стандартам. — 1939-. — М.: Издательство стандартов, 1939-. — ISSN 0368-1025.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Реферативный журнал. 32. Метрология и измерительная техника: отдельный выпуск / ВИНИТИ. — 1963-. — М.: ВИНИТИ РАН, 1963-. — ISSN 0034-2505.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Вопросы атомной науки и техники [Текст]. — Харьков: Харьковский физико-технический институт. — ISSN 0207-0472.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Технология машиностроения: обзорно-аналитический, научно-технический и производственный журнал. — М. — ISSN 1562-322X.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Фридман, А. Э.
Основы метрологии: Современный курс / А. Э. Фридман. — СПб.: Профессионал, 2008. — 279, [5] с.: ил. — Библиогр.: с. 277-280. — ISBN 978-5-91259-018-4: 1261.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Сергеев, Алексей Георгиевич.
Нанометрология: монография / А. Г. Сергеев ; рец.: С. М. Аракелян, В. Е. Ютт. — Москва: Логос, 2011. — 413 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 409-413. — ISBN 978-5-98704-494-0: 768.00 р.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциями - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрлогического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Точные измерения для высоких технологий / [П. А. Красовский, Ю. С. Домнин, В. Г. Пальчиков и др.]; под общ. ред. П. А. Красовского. — Менделеево: ВНИИФТРИ, 2008. — 290 с.: ил.; 22 см. — Авт. указаны в огл. — Библиогр.: с. 269-273. — ISBN 978-5-903232-07-9: 350.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи