Коллективная монография «Оптическая спектроскопия и стандарты частоты представляет цикл работ, выполненных в рамках одноименной программы ОФН РАН в ведущих научных организациях России. Первый том монографии «Оптическая спектроскопия и стандарты частоты. Молекулярная спектроскопия» выпущен в Издательстве ИОА СО РАН в 2004 г., второй том монографии «Оптическая спектроскопия и стандарты частоты. Атомная и молекулярная спектроскопия» опубликован в 2009 г. Третий том объединяет исследования по спектроскопии твердого тела, лазерам и стандартам частоты. В третьем томе представлены экспериментальные исследования спектров кристаллов, дисперсных сред, низкоразмерных структур, а также спектров комбинационного рассеяния и инфракрасного поглощения молекулярно-ионных кристаллов. Излагаются новые подходы к созданию лазеров, приводятся теоретические исследования по преобразованию оптического излучения в нелинейных средах. Описан современный подход к созданию стандартов частоты, связанный с применением фемтосекундных лазеров. Монография содержит обширный информативный материал, основанный на современных подходах и новых идеях оптической спектроскопии. Предназначается для специалистов в области оптической спектроскопии, лазерной физики, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей.

Коллективная монография «Оптическая спектроскопия и стандарты частоты. Молекулярная спектроскопия» является первой в планируемой серии книг, посвященных новым направлениям в оптической спектроскопии. Ее издание — это результат интенсивных исследований, которые были выполнены в спектроскопических центрах Новосибирска, Москвы и Томска в рамках программы РАН «Оптическая спектроскопия и стандарты частоты». В монографии представлены экспериментальные и теоретические исследования по лазерной спектроскопии, теории молекулярных спектров и межмолекулярных взаимодействий, а также работы, связанные с развитием современной экспериментальной техники, спектроскопических баз данных, с созданием аналитической аппаратуры и оптических стандартов частоты. Книга содержит обширный материал по молекулярной спектроскопии, основанный на современных подходах и новых идеях. Для специалистов в области спектроскопии и лазерной физики, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей.

Учебное пособие посвящено изложению современных аспектов фотоники и нанофотоники, включая взаимодействие фемтосекундных лазерных импульсов с веществом. Рассматриваются вопросы, связанные с конфокальной и ближнеполевой сканирующей оптической микроскопией высокого разрешения, свойствами и использованием поверхностных плазмонов, перепутанными фотонными состояниями, статистическими свойствами фотонных полей, квантовыми излучателями и метаматериалами. Предназначено для студентов, специализирующихся в области физической и квантовой оптики, лазерной физики, квантовой электроники, оптоэлектроники и смежных дисциплин.

Книга посвящена бурно развивающемуся направлению науки и техники — нанофотонике. В дифракционной нанофотонике исследуется дифракция света на макрообъектах с минимальными неоднородностями порядка десятков нанометров, вплоть до квантовых точек размером около 10 нм. Подробно рассмотрены современные численные методы решения задач дифракции в рамках строгой электромагнитной теории. Рассмотрена дифракция света на двумерных и трехмерных фотонных кристаллах, на фотонно-кристаллических волноводах и линзах, на градиентных элементах, на одномерных и двумерных дифракционных решетках, в том числе с металлическими слоями для формирования интерференционной картины поверхностных электромагнитных волн (плазмонов). Рассмотрены магнитооптические свойства двухслойных металлодиэлектрических гетероструктур. Результаты математического моделирования сравниваются с результатами экспериментального исследования созданных устройств дифракционной нанофотоники. Для студентов старших курсов специальностей: прикладные математика и физика, прикладная математика и информатика, оптика, а также для аспирантов, докторантов, научных работников и специалистов, работающих в соответствующих областях.

В книге приводится краткое изложение физических основ полупроводниковой электроники, необходимых для анализа рабочих процессов в оптоэлектронных устройствах и системах различного назначения. Рассмотрены физико-технологические, материаловедческие, оптико-физические, схемотехнические и системные аспекты многоуровневого проектирования широкого спектра оптоэлектронных устройств и интегральных оптоэлектронных систем обработки, передачи и отображения информации, а также рассмотрены традиционные и новые области применения оптоэлектронных устройств и приборов в системах связи, силовой электроники, высокоэнергетичной фотоэлектроники.