Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 31 - 35 из 10135 для dc.subject any/relevant "Полупроводников ... ( 0.488 сек.)

31
Коротков, Сергей Владимирович.
Мощные устройства импульсной энергетики на основе реверсивно включаемых динисторов (РВД): автореферат дис. ... д-ра техн. наук : 01.04.13 / С. В. Коротков ; офиц. оппоненты: Р. Б. Гончаренко, А. С. Васильев, В. Г. Кучинский; Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (СПб.), Российский федеральный ядерный центр (Саров), Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики (Саров), Институт проблем электрофизики РАН (СПб.). — СПб., 2003. — 34 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 30-34.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
32
Рубанов, Павел Владимирович.
Радиационная стойкость гетероструктур AIGaAs для светодиодов ИК-диапазона: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / П. В. Рубанов ; науч. рук. А. В. Градобоев, офиц. оппоненты : В. М. Зыков, А. П. Коханенко; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Юргинский технологический институт (филиал), Научно-исследовательский институт приборов. — Томск, 2012. — 19 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 17-19.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
33
Орлова, Ксения Николаевна.
Радиационная стойкость гетероструктур AlGaInP с множественными квантовыми ямами: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / К. Н. Орлова ; науч. рук. А. В. Градобоев, офиц. оппоненты : В. И. Олешко, А. В. Войцеховский; Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Юргинский технологический институт (филиал), Научно-исследовательский институт приборов. — Томск, 2013. — 21 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20-21.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
34
Грундман, Мариус.
Основы физики полупроводников: нанофизика и технические приложения / М. Грундман; пер. с англ. под ред. В. А. Гергеля. — 2-е изд. — М.: Физматлит, 2012. — 771 с. ; [3] л. ил.: ил. — ISBN 978-5-9221-1394-6: 200.00 р.
В учебнике известного немецкого физика М. Грундмана излагаются как фундаментальные основы физики твердого тела, так и последние достижения в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов. Особое внимание уделяется оптоэлектронным и электромеханическим эффектам в сложных полупроводниковых структурах с микро- и наноразмерами функциональных элементов. Подробно рассматриваются приборные и схемотехнические реализации теоретических моделей. Изложены технические аспекты получения полупроводников и изготовления полупроводниковых структур. Во второе издание добавлены самые последние достижения в исследованиях органических и магнитных полупроводников, нанотехнологий, тонкопленочных транзисторов, прозрачных проводящих оксидов, новых типов солнечных батарей. Для научных работников и инженеров, работающих в области электроники и вычислительной техники, и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
35
Структурно-фазовые состояния и механические свойства толстых сварных швов: монография / В. П. Гагауз [и др.] ; рец.: В. Я. Целлермаер, В. В. Муравьев; Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), ОАО "Новокузнецкдомнаремонт" (Новокузнецк). — Новокузнецк: СибГИУ, 2008. — 130 с.: ил. — Библиогр.: с. 120-130. — ISBN 978-5-8441-0285-1: 184.00 р.
Монография посвящена анализу формирования и изменения структуры, фазового состава и механических свойств толстых сварных соединений из стали 091'2С, выполненных различными способами, в зависимости от условий их получения и сроков эксплуатации. Выполнен анализ зеренной и дефектной субструктур и фазового состава толстых сварных швов и обосновано их деление на три закономерно расположенные зоны, характеризующиеся различной кинетикой и термодинамикой формирования градиентных структурно-фазовых состояний на основании анализа результатов комплексных исследований предложен способ диагностики наиболее напряженных участков шва, в которых могут зарождаться трещины. Полученные результаты исследования являются основой прогнозирования времени безопасной эксплуатации сварных соединений и целенаправленного выбора оптимального типа и способа сварки. Д ля неразрушающего контроля состояния сварных швов крупногабаритных конструкций рекомендовано измерение скорости ультразвука. Книга предназначена для специалистов в области физики конденсированного состояния, физического материаловедения, металловедения и термообработки металлов. Может быть полезна аспирантам и студентам старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи