Монография посвящена промышленным датчикам технологических процессов, современным методам измерения их характеристик, типичным проблемам, которые возникают при эксплуатации измерительной аппаратуры, методам ее диагностики и повышения надежности. Книга содержит как базовые знания, необходимые при проектировании систем измерения технологическими процессами, так и описания методов определения статических и динамических параметров датчиков и измерительных систем в промышленных условиях. Особое внимание уделяется практическим методам испытаний измерительных систем в лабораторной и промышленной практике с целью определения их характеристик и проверки работоспособности и надежности для применения в технологических процессах в энергетике, в аэрокосмической промышленности, в химической промышленности и в ряде других. Книга написана с позиции практического инженера и будет полезна как широкому кругу инженерно-технических работников, по роду своей деятельности связанных с управлением технологическими процессами и контрольно-измерительными системами, так и студентам и аспирантам технических вузов, специализирующихся в соответствующих областях.

Книга содержит большой объем оригинального материала по вопросам функционального и схемотехнического проектирования цифровых устройств на микросхемах. В отличие от третьего издания расширен материал по триггерным схемам и схемам счетчиков, по импульсным устройствам на цифровых ИС. Введен новый материал по источникам вторичного питания и линиям связи, реализованным с применением цифровых ИС.

Книга является второй частью изданного ранее «Введения в криогенную микроэлектронику». В ней используются экспериментально-теоретические основы, изложенные во «Введении», работа посвящена описанию конкретных применений комплексированных изделий криогенной микроэлектроники в системах радиоэлектронного вооружения различного базирования. Для научных работников, занимающихся дальней космической связью, сверхмалошумящими приемно-усилительными системами СВЧ-диапазона, наземной и внеатмосферной астрономией и дистанционным зондированием Земли в видимой и инфракрасной областях спектра, а также - для аспирантов и студентов старших курсов технических университетов, интересующихся физико-техническими вопросами построения систем обнаружения и целеуказания высокоточным системам.