Представлены результаты исследования закономерностей роста кристаллов в расплавах. Обоснован симметричный подход к анализу процессов формирования кристаллов и пленок в несферических полях температур. Изложена методика анализа идеальной поверхности кристаллов с количественной оценкой насыщенности связей на грани, характеризующей силу взаимодействия поверхности с встраивающимися в структуру частицами. Показано, что уточненный анализ проблемы морфогенеза монокристаллов и двойников четко согласуется с экспериментом. Описаны закономерная эволюция габитуса свободно растущих кристаллов при изменении степени переохлаждения расплава и резкое габитусное превращение при достижении критического переохлаждения. Приведены решения вопросов ориентационной обусловленности кристаллообразования в расплавах, касающиеся морфологической устойчивости, дефектов структуры, захвата примесей. Для кристаллографов. минералогов и материаловедов. специалистов в области управляемой кристаллизации расплавов, выращивания кристаллов и пленок.

Основное содержание составляет описание методики проведения дифракционных экспериментов с использованием как стационарных, так и импульсных источников нейтронов. Предназначена в первую очередь для физиков-экспериментаторов, которые не являются специалистами по структурной нейтронографии, но нуждаются в пособии, знакомящем их с современными методами дифракции нейтронов. Полезна также студентам старших курсов, специализирующимся в области нейтронной физики.

Книга содержит справочные таблицы физических величин, используемых при рентгеноспектральном анализе и работах по рентгеновской спектроскопии. Даны коэффициенты ослабления в интервале длин волн 0,1-250 А для основных линий всех элементов во всех поглощающих элементах, длины волн и энергии фотонов всех линий рентгеновского спектра для всех элементов, энергии, ширины и выходы флуоресценции уровней, сечения рассеяния, длины волн всех линий рентгеновского спектра в порядке возрастания значений и соответствующие им углы дифракции и их синусы для многих кристаллов-анализаторов, функции интенсивности для энергий электронов от 10 до 50 кэВ и углов скольжения их 60 и 90, а также ряд других таблиц.

Книга посвящена рентгеновской спектроскопии, которая приобретает все более широкое практическое применение в науке и технике. Книга может служить практическим руководством при выборе и освоении аппаратуры, при проведении рентгено-спектральных анализов и эксперименатльных исследований тонкой структуры рентгеновских спектров испускания и поглощения, а также при обработке полученных результатов. Особое внимание уделено теории и практике рентгено-спектрального качественного и количественного анализа материалов сложного состава (сплавов, руд и минералов).Книга рассчитана на научных работников, инженеров, техников и лаборантов, работающих в области различных рентгено-спектральных исследований и других видов рентгеновского анализа вещества, а также на аспирантов и студентов старших курсов вузов соответствующих специальностей.