В монографии изложены представления о механизмах деформации и разрушения порошковых твердых сплавов вольфрамовой группы. Рассмотрены их механические характеристики в качестве критериев оценки качества и долговечности твердосплавных изделий в условиях эксплуатации. Широко представлены результаты исследований закономерностей усталостного разрушения твердых сплавов при ударном и гармоническом нагружениях и поведения в условиях сложно-напряженного состояния. Даны рекомендации по оценке прочности и долговечности с учетом ряда технологических факторов, таких, как исходная структура твердых сплавов, геометрические размеры образцов или изделий, состояние поверхностного слоя и др. Показана возможность увеличения прочностных характеристик порошковых твердых сплавов объемным и поверхностны упрочнением и определены области эффективного его применения. Для научных и инженерно-технических работников, создающих новые инструментальные материалы, занимающихся разработкой, изготовлением и применением твердосплавного инструмента и других изделий из твердых сплавов, а также для преподавателей и студентов вузов.

В монографии рассмотрены новые итерационные методы и алгоритмы вычислительной томографии, позволяющие восстанавливать трехмерные изображения и функции распределения свойств объектов из неполных данных. Описаны новые параллельные итерационные алгоритмы. Рассмотрены вопросы эффективности решения задач рентгеновской томографии с неполными данными, приведены результаты численных расчетов. Исследована магнитошумоввая вычислительная томография, предназначенная для восстановления функции послойного распределения по глубине изучаемого параметра поверхностного слоя ферромагнитных материалов, а также прямая задача для вихретоковой тографии поводящих изделий. Большое внимание уделено исследованию реконструктивных оболочечных методов томографического контроля, которые имеют ряд существенных преимуществ, важных для реконструкции бинарных объектов контроля. Эти методы позволяют эффективно использовать априорную информацию о внутренней структуре промышленных объектов контроля, относящихся к классу кусочно-однородных объектов. Описанные методы предназначенные для решения задач неразрушающего контроля и медицинской диагностики. Предназначена для научных и инженерно-технических работников, аспирантов и студентов, занимающихся вопросами решения итерационных томографических задач.

Имя заслуженного деятеля науки и техники РСФСР, лауреата Государственной премии СССР, доктора технически наук, одного из основателей Института машиноведения РАН, профессора Михаила Михайловича Хрущова (1890-1972) широко известно ученым в области трибологии, материаловедения и технологии машиностроительных материалов. Он является одним из основоположников отечественной трибологической науки. Его научные интересы были чрезвычайно разнообразны: антифрикционные материалы, подшипники скольжения, смазывающие материалы и их смазывающая способность, разработка методов и приборов для исследования механических свойств поверхностных слоев и измерений малых износов, защита от изнашивания деталей двигателей внутреннего сгорания и сельхозмашин и многое другое. Созданный М. М. Хрущовым в ИМАШ РАН Научный семинар по трению и износу в машинах, носящий его имя, пользуется заслуженным авторитетом среди специалистов в области трения, износа и смазки. Настоящий сборник содержит ряд ставших классическими работ М. М. Хрущова в области трибологии и материаловедения, в числе которых монографии "Микротвердость, определяемая методом вдавливания" (1943) и "Исследования приработки подшипниковых сплавов и цапф" (1946), являющиеся в настоящее время библиографической редкостью, а также работы в области испытаний смазочных масле, методов и конструкции приборов для испытания на микротвердость, опубликованные в малодоступных современному читателю изданиях. Книга предназначена для научных работников, спирантов и инженеров, специализирующихся в области трибологии, материаловедения, микромеханических испытаний материалов и нанотехники; будет также полезна для студентов старших курсов технических вузов и всех, кто интересуется историей техники.

В монографии с единых позиций рассмотрены основные электронные и фотоэлектрические явления в полупроводниках с областями пространственного заряда. Впервые изложена теория импеданса и высокочастотной фотоЭДС в МДП-структурах при произвольном неравновесном состоянии полупроводника, фотопроводимости в основной и примесной областях спектра, продольных эффектов в полупроводниках, а также импеданса и люкс-амперных характеристик гетеропереходов при наличии граничных электронных состояний. Книга рассчитана на научных работников, специализирующихся в области физики полупроводников и полупроводниковой электроники.