В книге приняли участие 36 известных специалистов по вакуумной электронике. Несмотря на ограниченный объём, авторам удалось изложить принцип работы, технические возможности и области применения основных электровакуумных приборов и устройств, что позволяет использовать книгу в качестве своеобразного справочника или учебного пособия для студентов высших учебных заведений и специалистов, занимающихся вопросами разработки и применения электронных компонентов в различных системах радиоэлектроники. Книга написана доступным языком, методически сбалансирована, что позволило при редактировании ограничиться минимальным количеством замечаний.

В книге рассмотрены особенности работы субмикронных МОП-транзисторов, описаны направления развития и ограничения применения методов масштабирования транзисторов, представлены требования к подзатворным диэлектрикам и технологии их формирования, различные конструкции сток-истоковых областей МОПТ и технологические процессы создания мелкозалегающих легированных слоев. Рассмотрены проблемы влияния масштабирования размеров элементов в субмикронную область и особенностей технологических процессов на надежность и долговечность субмикронных МОП-транзисторов. Представлены данные о влиянии технологических процессов изготовления субмикронных СБИС (процессов плазменной обработки, ионного легирования и технологических операций переноса изображения) на деградацию подзатворного диэлектрика, а значит — на уровень выхода, надежность и долговечность годных готовых изделий. Книга предназначена для специалистов в области проектирования и разработки технологии изготовления КМОП СБИС, а также для студентов старших курсов, аспирантов и преподавателей технических вузов.

Основные положения теории контрастного видения изложены в форме, не засоряющей изложение излишней информацией. В дополнение к известному общему закону связи синусов углов падения и преломления сформулирован общий закон связи направляющих косинусов падающего и преломленного лучей. Предложено с использованием построения хода лучей строить прохождение сферического волнового фронта через оптическую систему.??В основу теории положена модель восприятия контраста, соответствующая результатам полевых измерений дальности видения в оптические приборы. Для оценок качества оптических схем приборов в лабораторных условиях (без полевых испытаний) приведены вероятностные характеристики условий наблюдения и модели дальности действия оптических приборов в зависимости от основных характеристик оптической системы прибор-глаз. Предложен метод логико-вероятностного моделирования стохастических процессов. Приведен пример получения вероятностных оценок видения с использованием комплекса приборов, внешних условий наблюдения и интенсивностей решения зрительной задачи тремя операторами. Статистические оценки вероятностных характеристик эффективности предлагается производить с использованием вероятностных функций соответствия, учитывающих возможность реализации неслучайных величин. Это позволяет избавиться от основного недостатка классического метода получения оценок максимального правдоподобия (неправдоподобия оценок при малой выборке результатов статистических наблюдений). Монография предназначена для заказчиков и разработчиков оптических приборов с нетрадиционными оптическими схемами, элементами или материалами, для научных работников и аспирантов.

Является практическим руководством по ремонту и наладке приборов и регуляторов технологических процессов во всех областях промышленности. Детально описаны приемы ремонта приборов и регуляторов температуры, давления, расхода, газового анализа, а также электроизмерительных приборов основных систем. Для рабочих и инженерно-технических работников, занятых ремонтом, наладкой и эксплуатацией приборов.

Книга английского специалиста посвящена электронным контрольно-измерительным приборам и современным методам измерений. Рассматриваются вопросы, связанные с единицами и погрешностями измерений, измерительными эталонами, приборными шинами. Изучается широкий спектр приборов от простейших устройств общего назначения и генераторов сигналов до приборов для контроля сложных систем (гармонические анализаторы, анализаторы спектра, логические и сигнатурные анализаторы, осциллографы) Для преподавателей и студентов вузов по специальности радиоэлектронные устройства, а также специалистов смежных областей, применяющих контрольно-измерительную технику.

В книге изложены основы физики полупроводников и их практические применения. Первые четыре главы охватывают все главные вопросы, связаные с теорией, физико-химическими свойствами и технологией полупроводников. Пятая глава содержит описание полупроводниковых приборов, их принципиального устройства и применения.Книга служит элементарным введением в сложную область современной полупроводниковой электроники. Ознакомление с ней - это первый этап в освоении физики и практики полупроводников, после чего можно приступать к чтению более сложной и специализированной литературы.

Изложены наиболее правильные, по мнению авторов, и точные методы анализа руд цветных металлов, промежуточных и конечных продуктов их переработки. Рассмотрены новые химико-аналитические принципы и методы анализа металлов, основанные на применении новых приборов, идеально заменяющие классические весовые и титрометрические методы. Приведены методы и результаты анализа алюминия, свинца, меди, цинка, благородных и тугоплавких металлов. Для инженерно-технических работников, занимающихся анализом материалов в металлургии и других отраслях промышленности.

В учебнике известного немецкого физика М. Грундмана излагаются как фундаментальные основы физики твердого тела, так и последние достижения в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов. Особое внимание уделяется оптоэлектронным и электромеханическим эффектам в сложных полупроводниковых структурах с микро- и наноразмерами функциональных элементов. Подробно рассматриваются приборные и схемотехнические реализации теоретических моделей. Изложены технические аспекты получения полупроводников и изготовления полупроводниковых структур. Во второе издание добавлены самые последние достижения в исследованиях органических и магнитных полупроводников, нанотехнологий, тонкопленочных транзисторов, прозрачных проводящих оксидов, новых типов солнечных батарей. Для научных работников и инженеров, работающих в области электроники и вычислительной техники, и студентов старших курсов соответствующих специальностей.

В монографии описаны конструкции и приведены выходные параметры линейных индукционных ускорителей, разработанных специально или использованных в определенных модификациях для приборов релятивистской высокочастотной электроники. Рассматриваются способы разрешения разнообразных физических и инженерных проблем, возникающих при расчете, конструировании моделировании и эксплуатации таких ускорителей. Для научных и инженерных работников, специализирующихся в данной области.

Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров.

Представленный в книге аналитический обзор охватывает свыше 1750 работ, посвященных III-N полупроводникам, которые применяются для создания транзисторов и радиоэлектронных устройств большой мощности, работающих в СВЧ диапазоне частот. Рассмотрены материалы, приборы, их технология, моделирование, проблемы надежности и применения. Книга представляет большой интерес для студентов, аспирантов, инженеров, разработчиков приборов и соответствующей аппаратуры.