Справочник является последним томом многотомного издания «Новый справочник химика и технолога». В нем представлены общие сведения о строении вещества, физико-химических свойствах простых веществ и важнейших неорганических и органических соединений, а также единицы измерений, важнейшие физические константы. Большой раздел в справочнике посвящен ароматическим соединениям (бензолу, анилину и органическим красителям). Рассматриваются вопросы, связанные с галогенсеребряной и цветной фотографиями и, как следствие, фотолитографией. Впервые в справочной литературе представлен раздел «Номенклатура органических соединений». Приводится информация по технике лабораторных работ, основам технологии. Для разработчиков, исследователей и научных работников важен раздел посвященный вопросам интеллектуальной собственности. Справочник предназначен для научного и инженерно-технического персонала отраслевых лабораторий, инженеров-химиков-технологов, исследователей, преподавателей и студентов университетов, химико-технологических, химико-фармацевтических вузов, а также для специалистов смежных профессий.

Рассмотрен широкий круг вопросов, принадлежащих компетенции теории относительности. Принята концепция трансфинитной относительности. Следуя ей, внесены качественные изменения в понимание и структуру пространства и времени, учтены их многоуровневость и система ранговых движений. Найдена симметрия релятивистских процессов, которая задается нигруппой. Проанализированы грани принципа относительности. Показано, что сверхсветовые скорости не противоречат принципу причинности. Дано обобщение модели электромагнитных явлений, в котором все известные релятивистские эксперименты объясняются в модели физического пространства и времени, не используя специальной теории относительности. Показано, как физически корректно учесть условия измерения в электродинамике, проиллюстрированы тонкости условий измерения и алгоритмов его расчета. Предложена визуальная механическая конструкция для частиц света. Показано. что она согласуется с известными экспериментами. Найдены новые ростковые точки фундаментальной физики, указаны ожидаемые перспективы ее развития.

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.

Книга содержит справочные таблицы физических величин, используемых при рентгеноспектральном анализе и работах по рентгеновской спектроскопии. Даны коэффициенты ослабления в интервале длин волн 0,1-250 А для основных линий всех элементов во всех поглощающих элементах, длины волн и энергии фотонов всех линий рентгеновского спектра для всех элементов, энергии, ширины и выходы флуоресценции уровней, сечения рассеяния, длины волн всех линий рентгеновского спектра в порядке возрастания значений и соответствующие им углы дифракции и их синусы для многих кристаллов-анализаторов, функции интенсивности для энергий электронов от 10 до 50 кэВ и углов скольжения их 60 и 90, а также ряд других таблиц.