Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 6397 для dc.subject any/relevant "физика физика т ... ( 0.133 сек.)

1
Спенс, Джон.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения: переводное издание / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии: материалы временных коллективов. — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Системные требования: Загл. с диска. — 150.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил., фото.цв.; 21 см. + 1 эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Хокс, П.
Электронная оптика и электронная микроскопия: переводное издание / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — М.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Библиогр.: с. 296-299. — Предм. указ.: с. 315-318. — 1.66 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Олфрей, Г. Ф.
Физическая электроника: переводное издание / Г. Ф. Олфрей ; пер. с англ. В. И. Гайдука. — М.: Мир, 1966. — 316 с.: ил. — Библиогр.: с. 303-308. — 1.25 р.
Книга посвящена физическим основам работы различных электронных приборов. После краткого исторического введения изложены основные сведения из атомной и молекулярной физики, теории кристаллов, полупроводников и диэлектриков. В весьма популярной форме, но достаточно строго трактуется физический смысл ряда сложных явлений и понятий современной физики (уравнение Шредингера, переходы между уровнями и т. д.). К числу рассмотренных электронных приборов относятся вакуумные лампы от триодов до СВЧ-устройств, газоразрядные приборы и полупроводниковые элементы. Отражены новые направления использования плазмы газового разряда—термоядерный синтез, магнитогидродинамические генераторы и электрические ракетные двигатели. В последней главе книги с позиций квантовой электроники описаны лазеры и мазеры. Книга может быть использована в качестве дополнительного пособия студентами физических и физико-технических факультетов университетов и втузов, она также представляет интерес для широкого круга читателей — инженеров и неспециалистов, которые хотят познакомиться с современным состоянием физики и практическими применениями, основанными на ее достижениях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Берг, А.
Светодиоды: переводное издание / А. Берг, П. Дин ; пер. с англ. под ред. А. Э. Юновича. — М.: Мир, 1979. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — Предм. указ.: с. 677-682. — 3.40 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Нагорнов, Юрий Сергеевич.
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00 р.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Журнал технической физики [Текст] / Рос. акад. наук, Отделение физических наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе. — 1931-. — М.; СПб.: Наука, 1931-. — ISSN 0044-4642.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Новиков, Юрий Алексеевич.
Вторичная электронная эмиссия рельефной поверхности твердого тела: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.10 / Ю. А. Новиков ; офиц. оппоненты: В. Ф. Киселев, М. Н. Филиппов, Б. Н. Васичев; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Московский государственный инженерно-физический институт (государственный университет) (М.). — М., 1995. — 37 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 35-37.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи