Излагаются физические основы методов измерения магнитных и электрических полей, токов, а также электрофизических характеристик веществ, включая высокочастотные и сверхвысокочастотные методы. Значительное внимание уделено особенностям измерений в условиях сильных импульсных полей и способам борьбы с электромагнитными помехами. Для студентов и аспирантов физико-технических специальностей вузов, а также научных работников и инженеров, занимающихся физическими измерениями.

Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциями - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрлогического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Представлены описание и результаты апробации разработанного малогабаритного спектрального прибора, предназначенного для регистрации слабоинтенсивных спектров комбинационного рассеяния света. Приведена методика калибровки прибора, основанная на сопоставлении пикселов ПЗС-матрицы длинам волн спектра неоновой лампы. Исследован диапазон линейности выходного сигнала используемой ПЗС-матрицы Hamamatsu S10141 в зависимости от величины падающего светового потока.

В книге излагаются основы электрических измерений. Рассматриваются методы измерений электрических, магнитных и неэлектрических величин и средств измерений. Книга предназначена для студентов электротехнических и энергетических вузов и факультетов и может служить пособием в практической работе инженеров-электриков различных специальностей.

В сборнике представлены работы по автоматизации исследований в Институте экспериментальной метеорологии (Обнинск). Рассматриваются методы организации аппаратуры в современном автоматизированном эксперименте, общие требования к аппаратуре, описываются создаваемые в институте технические комплексы, включающие систему вычислительных машин, приборы для измерения и регистрации входных данных, а также средства передачи данных. Обсуждается математическое обеспечение, необходимое для организации работы ЭВМ на линии с экспериментом, с обработкой данных в реальном времени. Приводятся первые результаты работы по связи ЭВМ АСВТ М-3000 с экспериментальными установками. Анализируются задачи информационного обслуживания исследователей.Сборник рассчитан на научных работников, занимающихся разработкой методики исследований и организацией аппаратуры в современном эксперименте, а также на специалистов, создающих современные автоматизированные системы и конкретные устройства для таких систем. Может быть полезен для аспирантов и студентов, интересующихся проблемами автоматизации экспериментов.