Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 4645 для dc.subject any/relevant "физика плазмы и ... ( 0.027 сек.)

1
Мюллер, Э.
Автоионная микроскопия (принципы и применение): монография / Э. Мюллер, Т. Цонь ; пер. с англ. В. А. Алексеева [и др.], под ред. Л. П. Потапова. — М.: Металлургия, 1972. — 360 с.: ил. — Библиогр.: с. 354-360. — 2.54 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: монография / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Оже-процессы при атомных столкновениях: монография / Э. С. Парилис [и др.] ; отв. ред. О. Б. Фирсов; АН УзССР, Институт электроники им. У. А. Арифова. — Ташкент: Фан, 1989. — 237 с.: ил. — Библиогр. с. 215-235. — ISBN 5-648-00732-9: 3.40 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Хокс, П.
Электронная оптика и электронная микроскопия: переводное издание / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — М.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Библиогр.: с. 296-299. — Предм. указ.: с. 315-318. — 1.66 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Рентгеновская оптика и микроскопия: переводное издание / Г. Шмаль [и др.] ; под ред. Г. Шмаля, Д. Рудольфа ; пер. с англ. Н. Н. Зорева, И. В. Кожевникова, под ред. А. В. Виноградова. — М.: Мир, 1987. — 463 с.: ил. — (Springer Series in Optical Sciences). — Библиогр. в конце ст. — 4.60 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Кацнельсон, Савелий Семенович.
Теплофизические и оптические свойства аргоновой плазмы: монография / С. С. Кацнельсон, Г. А. Ковальская ; отв. ред. Н. А. Рубцов; АН СССР, Сиб. отд-ние, Институт теоретической и прикладной механики. — Новосибирск: Наука. Сибирское отделение, 1985. — 148 с.: ил. — Библиогр.: с. 146. — 1.70 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Малкин, Олег Алексеевич.
Импульсный ток и релаксация в газе: монография / О. А. Малкин. — М.: Атомиздат, 1974. — 280 с.: ил. — Библиогр.: с. 268-278.
В книге описаны результаты экспериментального исследования элементарных процессов в квазистационарной и релаксирующей газоразрядной плазме при сильной и слабой ионизации. В слабоионизованной плазме изучена неравновесная функция распределения электронов по энергиям и ее влияние на коэффициенты скорости неупругих процессов и переноса, проведено сравнение полученных результатов с расчетом по теории, выявлена природа основных элементарных процессов с участием молекулярных ионов в инертном газе. В сильноионизованной плазме исследованы условия реализации частичного и полного локального термодинамического равновесия, показана недостаточность приближенных критериев равновесия Грима и др., проведено сравнение опытных данных с расчетом по приближенной теории МДП, разработанной Л. М. Биберманом, В. С. Воробьевым и И. Т. Якубовым. В результате исследования распада сильноионизованной плазмы получены температурные зависимости обобщенных коэффициентов рекомбинации водородоподобных ионов водорода и гелия. Приведено описание общей картины элементарных процессов в низкотемпературной плазме при различной степени ионизации.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Суворов, Александр Леонидович.
Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах: монография / А. Л. Суворов. — М.: Энергоиздат, 1982. — 167 с.: ил. — Библиогр.: с. 160-165. — 0.65 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Нагорнов, Юрий Сергеевич.
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00 р.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Делоне, Николай Борисович.
Нелинейная ионизация атомов лазерным излучением: монография / Н. Б. Делоне, В. П. Крайнов. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2001. — 312 с.: ил. — Библиогр.: с. 297-311. — ISBN 5-9221-0150-1: 49.50 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи