В монографии анализируется влияние ионизирующих излучений (ИИ), преимущественно космического пространства, на характеристики изделий микро- и наноэлектроники. Рассмотрены: основы физики взаимодействий ИИ с полупроводниками; изменение электрофизических параметров приборных структур в результате образования наноразмерных дефектов под действием ИИ; дозовые ионизационные эффекты в структуре Si/Si02 и их влияние на характеристики приборов и микросхем; особенности радиационных испытаний изделий, изготовленных по МОП-, КМОП-, а также по биполярной технологии, на стойкость к воздействию низкоинтенсивного ИИ; одиночные события в изделиях микро- и наноэлектроники при воздействии отдельных заряженных частиц. Для технических специалистов, работающих в области электроники, а также для студентов и аспирантов.

В монографии представлена система диагностирования электрооборудования, основанная на принципах методологии и учета физических процессов в элементах объекта контроля в условиях его эксплуатации. Рассмотрены основные функциональные части системы диагностирования электрооборудования высокого напряжения, а также закономерности его отказа и старения. Предложена методика определения стойкости к отказу в процессе диагностирования электрооборудования. Книга предназначена для инженерно-технических и научных работников, создающих, модернизирующих и эксплуатирующих системы диагностирования высоковольтного оборудования, а также для студентов старших курсов технических вузов, обучающихся по специальности «Техника высоких напряжений».

Рассмотрен комплекс вопросов эксплуатации, технического обслуживания, монтажа и ремонта современного и перспективного холодильного оборудования, применяемого при хранении сельскохозяйственной продукции. Освещены особенности наладки, настройки и ремонта в процессе эксплуатации приборов автоматики. Для мастеров-наладчиков, слесарей и машинистов холодильных установок колхозов и совхозов.