| 41 |
|
Рентгеновская оптика: сб. статей / АН СССР, Физический институт им. П. Н. Лебедева; отв. ред. тома А. Н. Ораевский. — М.: Наука, 1989. — 182 с.: ил. — (Труды Физического института им. П. Н. Лебедева АН СССР / гл. ред. Н. Г. Басов). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-02-000019-1: 3.30 р. |
| 42 |
|
К теории автоэлектронной эмиссии полупроводников: автореферат дис. ... / Л. М. Баскин ; науч. рук.: Г. А. Месяц, Г. Н. Фурсей, офиц. оппоненты: В. Г. Багров, Г. Ф. Караваев; Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (Томск), Ленинградский государственный университет им. А. А. Жданова (Л.), Институт радиотехники и электроники АН СССР (М.), Томский государственный университет им. В. В. Куйбышева (Томск). — Томск, 1975. — 23 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 22-23.
|
| 43 |
|
Исследование и разработка источников коротковолнового ультрафиолетового излучения микросекундного диапазона на основе трубчатых ксеноновых ламп: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.13 / В. Ю. Коробочко ; науч. рук. П. Н. Дашук, науч. конс. С. Л. Кулаков, офиц. оппоненты: В. А. Бурцев, С. В. Лукашенко; Санкт-Петербургский государственный технический университет (СПб.), Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова (СПб.). — СПб., 1997. — 17 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-17.
|
| 44 |
|
Компьютерное моделирование взаимодействия частиц с поверхностью твердого тела: переводное издание / В. Экштайн ; пер. с англ. М. Г. Степановой ; под ред. Е. С. Машковой. — М.: Мир, 1995. — 321 с.: ил. — Парал. тит. лист англ. — Библиогр.: с. 311-314. — Предм. указ.: с. 316-317. — ISBN 5-03-002506-5: 27.00 р.
|
| 45 |
|
Химическая физика поверхности твердого тела: переводное издание / С. Моррисон ; пер. с англ. А. Я. Шульмана, под ред. Ф. Ф. Волькенштейна. — М.: Мир, 1980. — 488 с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 452-475. — Имен. указ.: с. 476-480. — Предм. указ.: с. 481-483. — 3.40 р.
|
| 46 |
|
Распыление под действием бомбардировки частицами / под ред. Р. Бериша, К. Виттмака ; пер. с англ. Л. Л. Балашовой [и др.] под ред. В. А. Молчанова. — М.; : Мир , Б.г. — (Проблемы прикладной физики ).
Вып. 3 : Характеристики распыленных частиц, применение в технике / Р. Бериш [и др.]. — , 1998. — 551 с.: ил. — Авт. указ. на об. тит. л. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-003118-9.
|
| 47 |
|
Физическая химия поверхностей: научное издание / А. У. Адамсон ; пер. с англ. И. Г. Абидора, под ред. З. М. Зорина, В. М. Муллера. — М.: Мир, 1979. — : ил. — Предм. указ.: с. 552-564. — 4.30 р.
Книга - в настоящее время единственное в мировой литературе издание, в котором излагаются основные теоретические закономерности современной физической химии дисперсных систем и поверхностных явлений. Широта охвата проблемы, новизна материала и мастерское изложение вопросов позволяют использовать книгу и как монографию для научных работников и инженеров, деятельность которых связана с физикохимией поверхностей и многочисленными прикладными направлениями коллоидной химии, адгезией, адсорбцией, флотацией и т. п., и в качестве учебного пособия для преподавателей, аспирантов и студентов вузов.
|
| 48 |
|
Поверхностная энергия металлов и ультрадисперсных частиц: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / К. А. Бынков ; науч. рук. В. М. Кузнецов, оппоненты: Э. В. Козлов, В. С. Демиденко; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Донецкий физико-технический институт (Донецк). — Томск, 1990. — 18 с.: табл. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 17-18.
|
| 49 |
|
Физика поверхности : колебательная спектроскопия адсорбатов: переводное издание / Р. Уиллис [и др.], под ред. Р. Уиллиса ; пер. с англ. А. В. Боброва, Г. М. Идлиса, под ред. В. М. Аграновича. — . — 246, [2] с.
|
| 50 |
|
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00 р.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
|