Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 4742 для dc.subject any/relevant "МАТЕРИАЛОВЕДЕНИ ... ( 0.040 сек.)

1
Физические методы исследования неорганических материалов: сборник / Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова АН СССР. — М.: Наука, 1981. — 303, [1] с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 2.50 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Бланк, Аврам Борисович.
Аналитическая химия в исследовании и производстве неорганических функциональных материалов: монография / А. Б. Бланк; Институт монокристаллов НАН Украины. — Харьков: Институт монокристаллов, 2005. — 348 с.: ил., граф. — (Состояние и перспективы развития функциональных материалов для науки и техники). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 966-02-2645-4: 300.00 р.
В монографии обобщены результаты исследований автора и его коллег из Отдела аналитической химии функциональных материалов и объектов окружающей среды НТК "Институт монокристаллов" НАН Украины в области аналитической химии неорганических функциональных материалов для новейших отраслей современной науки и техники. Обсуждены принципы метрологического обеспечения аналитического контроля функциональных материалов (ФМ). Рассмотрены методы подготовки материалов к анализу, в частности, предложенные автором и его коллегами методы вскрытия тугоплавких веществ при помощи комплексообразующих реагентов, а также получения стекловидных, квазитвердых и пленочных излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа, методы предварительного концентрирования микрокомпонентов, Наибольшее внимание уделено различным вариантам кристализационного концентрирования, предложенным и детально изученным автором и его сотрудниками. Обсуждены методы анализа ФМ при помощи атомной спектрометрии, включая атомно-эмиссионную, атомно-абсорбционную и рентегнофлуоресцентную спектрометрию, а также рентгеноспектральный микроанализ. Рассмотрены методы анализа вольтамперометрии, кулонометрии газообразующих примесей, ионометрии. Обсуждены возможности вещественного анализ ФМ. Заключительный раздел книги посвящен использованию результатов анализа для решения фундаментальных и прикладных проблем материаловедения.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
Т. II :. — М.: Техносфера, 2010. — 1040 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-263-2: 1600.00 р.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Неорганическое материаловедение : энциклопедическое издание / под ред.: Г. Г. Гнесина, В. В. Скорохода. — Киев; : Наукова Думка. — 978-966-00-0631-7.
Т.1 : Основы науки о материалах. — , 2008. — 1152 с.: ил. табл. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-966-00-0664-5: 6664 р.
Первый том посвящен научным основам неорганического материаловедения, что соответствует общей концепции издания, совмещающего информацию о фундаментальных принципах формирования и исследования материалов со сведениями об их свойствах, технологиях и областях применения. Впервые создан энциклопедический свод современных научных представлений о физико-химической природе твердых тел, поведении неорганических материалов под действием внешних физических полей и химических факторов, рассмотрены методы анализа, исследований и диагностики неорганических материалов. Для научных работников, инженеров, аспирантов и студентов, специализирующихся в фундаментальных и прикладных областях современного материаловедения: металлургия расплавов, порошковая металлургия, полупроводники и материалы электронной техники, специальная керамика, оптические материалы, материалы электронной техники, специальная керамика, оптические материалы, материалы ядерной техники, газофазные, плазменные, лазерные и электронно-лучевые технологии, техника высоких давлений, сварка, пайка и пр.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Барахтин, Борис Константинович.
Металлы и сплавы. Анализ и исследование. Физико-аналитические методы исследования металлов и сплавов. Неметаллические включения: справочник / Б. К. Барахтин, А. М. Немец ; под ред.: И. П. Калинкина, В. И. Мосичева, Б. К. Барахтина. — СПб.: НПО "Профессионал", 2006. — 487 с.: ил. — Авт. указаны на обороте тит.л. — ISBN 5-98371-034-6: 6210.00 р.
Очередной том серии справочных изданий "Металлы и сплавы" посвящен разрешению практически важной проблемы улучшения эксплуатационных качеств материалов, таких ка прочность, пластичность, трещиностойкость и др., на основе использования современных физико-аналитических средств и методов контроля структурно-механического состояния материалов на всех стадиях производства, начиная с выплавки металла. Дано краткое изложение концептуальных идей российской научной материаловедческой школы в практической реализации взаимосвязей "химический состав-структура-технология-свойства" на базе достижений фундаментальной науки об определяющей роли многосвязной полимасштабной иерархической соподчиненности ансамблей дефектов кристаллического строения в изменчивости характеристик металлов и сплавов. Приведены справочные данные, необходимые для анализа и классификации неметаллических включений, выявления и анализа структуры металлов и сплавов на макро-, мезо- и микроскопическом масштабных уровных. Издаваемый том предназначен для научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области материаловедения, диагностики разрушения и оценки металлургического качества металла. Книга будет полезна для аспирантов и студентов металлургических, машиностроительных и политехнических вузов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Немец, Валерий Михайлович.
Спектральный анализ неорганических газов: монография / В. М. Немец, А. А. Петров, А. А. Соловьев. — Л.: Химия, 1988. — 239, [1] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 229-237. — ISBN 5-7245-0075-2: 1.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 376-377. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00 р.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце гл. — Предм. указ.: с. 376-377. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00 р.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Введенский, Вадим Юрьевич.
Экспериментальные методы физического материаловедения: монография / В. Ю. Введенский, А. С. Лилеев, А. С. Перминов ; рец. И. П. Арсентьева; Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (М.). — Москва: МИСИС, 2011. — 309 с.: ил.; 21 см. — Библиогр.: с. 308-309. — ISBN 978-5-87623-414-8: 495.00 р.
Монография посвящена обзору современных физических методов исследования, которые используются в физическом материаловедении для изучения физических свойств материалов, а также фазовых и структурных превращений. В число разбираемых методов измерений включены тепловые, электрические и магнитные методы. К тепловым методам исследования отнесены термический анализ, калориметрия, дилатометрия и измерения теплопроводности и температуропроводности. Электрические измерения в материаловедении рассмотрены на примере измерений удельного электрического сопротивления (электропроводности), а также большого комплекса параметров электрических цепей (емкости, индуктивности и др.), которые используют в конструкциях различных датчиков. Магнитные методы измерения рассмотрены как в статическом, так и в динамическом режимах. описаны методы измерений напряженности и индукции магнитного поля, магнитного момента, намагниченности, восприимчивости сильномагнитных и слабомагнитных веществ. Для студентов, аспирантов и специалистов в области физического материаловедения.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Пентин, Юрий Андреевич.
Основы молекулярной спектроскопии: [учеб. пособие для вузов по специальности 011000 "Химия" и направлению 510500 "Химия"] / Ю. А. Пентин, Г. М. Курамшина. — М.: Мир, 2008. — 398 с.: ил.; 22 см. — (Методы в химии). — Библиогр.: с. 392-393. — ISBN 978-5-94774-765-2. — ISBN 978-5-03-003846-9: 345.00 р.
В учебном пособии, написанном преподавателями кафедры физической химии химического факультета МГУ, изложены теоретические основы важнейших спектроскопических методов исследования строения молекул: ИК, УФ, КР, ЯМР, ЯКР, ЭПР, ФЭС и др. Обсуждаются природа взаимодействия электромагнитного излучения с веществом, теория групп и современные вычислительные возможности квантовой химии. Рассмотрены возможности и ограничения каждого метода, показаны схемы интерпретации спектров, приведены необходимые сведения о приборах и методиках эксперимента. Книга хорошо иллюстрирована, содержит упражнения и список дополнительной литературы. Для студентов химических и других естественнонаучных факультетов и вузов, а также для специалистов, которым применение спектральных методов необходимо в практической деятельности.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи